发明名称 电容层形成材料及该电容层形成材料之制造方法
摘要 本发明之目的在于提供一种电容层形成材料,其系可使电容电路之漏电流小者,该电容电路包括:介电层,其系使用溶胶–凝胶法、MOCVD法、溅镀蒸镀法之任一形成者。为达成该目的,采用一种电容层形成材料等,其系于在用于形成上部电极之第1导电层与用于形成下部电极之第2导电层之间包括介电层者,其特征在于:该介电层,系以溶胶–凝胶法、MOCVD法、溅镀蒸镀法之任一形成之氧化物介电膜,于构成该氧化物介电膜之粒子之间含浸树脂成分。又,作为关于本案发明之电容层形成材料之制造方法,采用一种制造方法,其特征在于:于下部电极之构成材料之表面,以溶胶–凝胶法、MOCVD法、溅镀蒸镀法之任一形成氧化物介电膜,于该氧化物介电膜之表面,涂工树脂清漆使之含浸,使树脂乾燥,使树脂硬化形成介电层,其后,于该介电层上设上部电极构成层。
申请公布号 TW200705482 申请公布日期 2007.02.01
申请号 TW095115246 申请日期 2006.04.28
申请人 三井金属业股份有限公司 发明人 阿部直彦;杉冈晶子;菅野明弘;中岛弘毅
分类号 H01G4/12(2006.01);H05K1/16(2006.01) 主分类号 H01G4/12(2006.01)
代理机构 代理人 洪澄文
主权项
地址 日本