发明名称 氮化物系半导体元件之制造方法及发光元件
摘要 本发明系关于一种氮化物系半导体元件之制造方法及发光元件,该氮化物系半导体元件之制造方法的特征为:包含如下步骤,亦即,于第一基板温度下使InxAlyGal–x–yN(0≦x,0≦y,x+y<1)缓冲层(2;12;22;32;42)于基板(1;11;21;31;41)上成长,并于第二基板温度下使第一导电型氮化物系半导体层(4;14;24;34;44)于缓冲层上成长;且第一温度为大于等于上述第二温度之温度。
申请公布号 TW200705712 申请公布日期 2007.02.01
申请号 TW095108418 申请日期 2006.03.13
申请人 夏普股份有限公司 发明人 笔田麻佑子;中津弘志
分类号 H01L33/00(2006.01);H01L21/205(2006.01) 主分类号 H01L33/00(2006.01)
代理机构 代理人 陈长文;林宗宏
主权项
地址 日本