Anordnung von aktiven Elementen und Verfahren für das Testen einer Anordnung von aktiven Elementen

摘要

Eine Anordnung von aktiven Elementen und ein Verfahren für das Testen einer Anordnung von aktiven Elementen werden bereitgestellt. Die Anordnung umfasst ein Substrat, eine Vielzahl von Abtastzeilen, eine Vielzahl von Datenleitungen, eine Vielzahl von Pixeleinheiten und eine Vielzahl von Testfeldern. Das Substrat umfasst einen Anzeigebereich und einen Randbereich. Die Abtastzeilen und die Datenleitungen sind auf dem Substrat angeordnet und umfassen eine Vielzahl von Pixelbereichen und Pixeltestbereichen jeweils in dem Anzeigebereich und dem Randbereich. Die Pixeleinheiten sind in den Pixelbereichen angeordnet und sind jeweils mit den Abtastzeilen und den Datenleitungen verbunden. Schließlich sind die Testfelder in der Nähe der Abtastzeilen und/oder der Datenleitungen angeordnet und sind auf dem Substrat und in dem Randbereich angeordnet. Jedes Testfeld ist mit der entsprechenden Datenleitung oder der entsprechenden Abtastzeile verbunden.