Verfahren zum Testen von elektronischen Bauteilen,申请号DE20031028719-传众专利搜索

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法人/股东/高管

发明名称	Verfahren zum Testen von elektronischen Bauteilen
摘要
申请公布号	DE10328719(B4)	申请公布日期	2007.02.01
申请号	DE20031028719	申请日期	2003.06.25
申请人	INFINEON TECHNOLOGIES AG	发明人	DALLABETTA, HARDY KURT JOSEF;DIEZ, WALTER KARL;STEGERER, FRANZ XAVER
分类号	G01R31/28;G01R31/01;G01R31/26	主分类号	G01R31/28
代理机构		代理人
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