发明名称 高精度激光折角测量方法及系统
摘要 本发明公开了一种高精度激光折角测量方法及系统。它是利用激光测距仪对被测物体的位移进行测量,所述在激光测距仪的激光光路上设有反射镜,在被测物体表面相对应的设置的反射镜;激光测距仪将测量信号通过A/D转换模块传送给PC处理机处理显示位移值和/或输出控制信号。该高精度激光折角测量系统在激光光路上设有反射镜,这样通过激光折射实现测量;它解决了当测量空间狭小时,按现有测量方法,测量设备无法安装实现直线测量的问题;本发明的测量系统测量精度达到0.1mm;而该系统中在进行测量时,还能实现单级测量报警控制、双级测量滑差报警控制。它特别适用于是空间狭小的地方进行位移测量。
申请公布号 CN1900739A 申请公布日期 2007.01.24
申请号 CN200610019496.2 申请日期 2006.06.29
申请人 梁前超 发明人 梁前超
分类号 G01S17/02(2006.01);G01S17/08(2006.01);G01B11/26(2006.01) 主分类号 G01S17/02(2006.01)
代理机构 武汉开元专利代理有限责任公司 代理人 俞鸿
主权项 1、一种高精度激光折角测量系统,它包括激光测距仪,A/D转换模块,PC处理机,其特征在于它还包括在激光测距仪的激光光路上设有折角反射镜。
地址 430033湖北省武汉市桥口区海军工程大学动力工程系406室