发明名称 |
高精度激光折角测量方法及系统 |
摘要 |
本发明公开了一种高精度激光折角测量方法及系统。它是利用激光测距仪对被测物体的位移进行测量,所述在激光测距仪的激光光路上设有反射镜,在被测物体表面相对应的设置的反射镜;激光测距仪将测量信号通过A/D转换模块传送给PC处理机处理显示位移值和/或输出控制信号。该高精度激光折角测量系统在激光光路上设有反射镜,这样通过激光折射实现测量;它解决了当测量空间狭小时,按现有测量方法,测量设备无法安装实现直线测量的问题;本发明的测量系统测量精度达到0.1mm;而该系统中在进行测量时,还能实现单级测量报警控制、双级测量滑差报警控制。它特别适用于是空间狭小的地方进行位移测量。 |
申请公布号 |
CN1900739A |
申请公布日期 |
2007.01.24 |
申请号 |
CN200610019496.2 |
申请日期 |
2006.06.29 |
申请人 |
梁前超 |
发明人 |
梁前超 |
分类号 |
G01S17/02(2006.01);G01S17/08(2006.01);G01B11/26(2006.01) |
主分类号 |
G01S17/02(2006.01) |
代理机构 |
武汉开元专利代理有限责任公司 |
代理人 |
俞鸿 |
主权项 |
1、一种高精度激光折角测量系统,它包括激光测距仪,A/D转换模块,PC处理机,其特征在于它还包括在激光测距仪的激光光路上设有折角反射镜。 |
地址 |
430033湖北省武汉市桥口区海军工程大学动力工程系406室 |