适用于低电压的高线性度CMOS模拟开关

摘要

本发明属集成电路技术领域，具体为一种适用于低电压的高线性度CMOS模拟采样开关。它由3个分压电阻、1个运算放大器、1个复制采样开关、1个采样开关、1个伪采样开关、2个升压电路组成。由运算放大器和复制采样开关形成负反馈电路，从而为复制采样开关复制出与采样开关相同的阈值电压。再将复制采样开关的栅电压作为采样开关的控制信号，以消除采样开关导通电阻随输入信号和阈值电压的变化，从而大大提高了采样开关的线性度。同时利用2个升压电路，消除了运放输出摆幅对电路功能的限制，实现了低电压下的正常工作。

主权项

1、一种适用于低电压的高线性度CMOS模拟开关，其特征在于由分压电阻(36、37、38)、复制采样开关(39)、采样开关(40)、伪采样开关(41)、升压电路一、升压电路二、运算放大器(56)经电路连接构成；其中，分压电阻(37)和(38)形成从输入信号端到地之间的分压，分压输出连接到运算放大器(56)的正输入端；复制采样管(39)的漏端连接到输入信号端，栅端连接到升压电路一和升压电路二的共同输出端节点(61)，源端连接到运算放大器(56)的负输入端；分压电阻(36)的一端连接到复制采样开关(39)的源端，另一端连接到地。