发明名称 光掩模坯、光掩模及其制作方法
摘要 在由石英或类似物制成用作光掩模基板的透明基板(11)的一个主平面上形成用于曝光光的遮光膜(12)。遮光膜(12)不仅用作所谓的“遮光膜”,而且还用作抗反射膜。另外,遮光膜具有100nm或更小的总厚度,而且对于波长为450nm的光,具有每单位厚度光学密度(OD)为0.025nm<SUP>-1</SUP>或更小的铬化合物的厚度占到该总厚度的70%或更多。在光掩模坯被用于制作为ArF曝光而设计的掩模的情形中,选择遮光膜(12)的厚度和组成使得遮光膜(12)的OD对于193nm或248nm的光是1.2到2.3。
申请公布号 CN1900819A 申请公布日期 2007.01.24
申请号 CN200610107711.4 申请日期 2006.07.20
申请人 信越化学工业株式会社;凸版印刷株式会社 发明人 吉川博树;洼田宽;木名濑良纪;冈崎智;丸山保;原口崇;岩片政秀;福岛祐一;佐贺匡
分类号 G03F1/14(2006.01);G03F7/16(2006.01) 主分类号 G03F1/14(2006.01)
代理机构 北京市金杜律师事务所 代理人 孟凡宏
主权项 1.一种光掩模坯,包括:透明基板;和形成在透明基板上用于曝光光的遮光膜;其特征在于所述遮光膜具有100nm或更小的总厚度,对于波长为450nm的光,每单位厚度光学密度(OD)为0.025nm-1或更小的铬化合物的厚度占到该总厚度的70%或更多。
地址 日本东京都