发明名称 多晶硅薄膜的制造方法
摘要 本发明提供一种多晶硅薄膜的制造方法,该方法是利用一般多晶硅层形成时表面突起具有不同高度的现象,利用部分高度较高的突起产生晶种,使用于接下来的结晶化步骤中,因此能够使新形成的多晶硅薄膜具有大小均匀且颗粒较大的晶粒,并具有数量与密度较少的突起,进而具有较佳的表面平坦度。
申请公布号 CN1295751C 申请公布日期 2007.01.17
申请号 CN03142882.7 申请日期 2003.06.16
申请人 友达光电股份有限公司 发明人 张茂益
分类号 H01L21/20(2006.01);H01L21/00(2006.01);G02F1/136(2006.01) 主分类号 H01L21/20(2006.01)
代理机构 北京集佳知识产权代理有限公司 代理人 王学强
主权项 1.一种多晶硅薄膜的制造方法,其特征是,该方法包含下列步骤:在一基底上形成一第一固态硅层,其中该第一固态硅层上具有不同高度的复数个第一突起,并且该些第一突起的顶端与该基底表面的最大距离为X1,该些第一突起的顶端与该基底表面的最小距离为Y1;对该第一固态硅层进行一流体化步骤,使厚度为Z1的该第一固态硅层部分成为流体,且Y1<Z1<X1,其中顶端与该基底表面的距离大于Z1的一部分该些第一突起区域并未完全流体化,而形成复数个硅微粒;以及以该些硅微粒作为晶种,进行一结晶工艺。
地址 台湾省新竹科学工业园区新竹市力行二路一号