发明名称 一种薄膜微桥结构的制作方法
摘要 本发明公开了一种薄膜微桥结构的制作方法,其步骤包括:①清洗衬底表面,并进行表面活化;②在衬底表面旋涂一层1-5μm厚的光敏聚酰亚胺薄膜;③对聚酰亚胺薄膜进行光刻处理,形成聚酰亚胺薄膜孤岛和桥墩孔,再进行亚胺化处理;④用金属填充桥墩孔;⑤在聚酰亚胺薄膜孤岛和金属桥墩上依次沉积氧化硅和氮化硅薄膜,形成复合薄膜层,氧化硅厚度为0.1-1μm,氮化硅厚度0.1-1μm;⑥在上述复合薄膜层上光刻出微桥结构图形,刻蚀该复合薄膜层至聚酰亚胺薄膜层,形成桥面和桥腿图形,并用氧等离子体去除桥面和桥腿图形底部的聚酰亚胺薄膜,形成微桥结构。本发明解决了由于桥腿弯曲而导致的应力集中问题,并获得了具有较低应力的复合薄膜。
申请公布号 CN1295138C 申请公布日期 2007.01.17
申请号 CN200410061385.9 申请日期 2004.12.17
申请人 华中科技大学 发明人 黄光;王宏臣;陈四海;何少伟;付小朝;易新建;马宏
分类号 B81B7/00(2006.01);B81C1/00(2006.01);G01J5/20(2006.01) 主分类号 B81B7/00(2006.01)
代理机构 华中科技大学专利中心 代理人 曹葆青
主权项 1、一种薄膜微桥结构的制作方法,其步骤包括:①、清洗衬底表面,并进行表面活化;②、在衬底表面旋涂一层1-5μm厚的光敏聚酰亚胺薄膜;③、对聚酰亚胺薄膜进行光刻处理,形成聚酰亚胺薄膜孤岛和桥墩孔,再进行亚胺化处理;④、用金属填充桥墩孔;⑤、在聚酰亚胺薄膜孤岛和金属桥墩上依次沉积氧化硅和氮化硅薄膜,形成复合薄膜层,氧化硅厚度为0.1-1μm,氮化硅厚度0.1-1μm;⑥、在上述复合薄膜层上光刻出微桥结构图形,刻蚀该复合薄膜层至聚酰亚胺薄膜层,形成桥面和桥腿图形,并用氧等离子体去除桥面和桥腿图形底部的聚酰亚胺薄膜,形成微桥结构。
地址 430074湖北省武汉市洪山区珞喻路1037号