发明名称 测试多层堆叠积体电路封装的装置与方法
摘要 本发明提供一种测试多层堆叠积体电路封装的装置与方法。装置可包括一真空泵及一插槽。插槽可包括多个内部插脚、多个外部插脚、一插槽体及至少一第一进气口。可将多个外部插脚电性连接至多个内部插脚。至少一第一进气口可与多个内部插脚间之大气连通。当测试包括多个封装之多层堆叠积体电路封装时,可将多层堆叠积体电路封装之多个封装插脚插入(或定位)于插槽之多个内部插脚内。藉由使用真空泵经由插槽之第一进气口施加一种真空以便可牵拉(或定位)多层堆叠积体电路封装。
申请公布号 TW200702688 申请公布日期 2007.01.16
申请号 TW095124629 申请日期 2006.07.06
申请人 三星电子股份有限公司 发明人 柳正洙;金秉润;郑连根;朴铉洙
分类号 G01R31/28(2006.01) 主分类号 G01R31/28(2006.01)
代理机构 代理人 詹铭文;萧锡清
主权项
地址 韩国