发明名称 利用单独验证及额外擦除记忆体单元子集之擦除化非挥发性记忆体
摘要 一非挥发性储存元件集合被划分成若干子集以进行擦除,以便避免过擦除较快速擦除的储存元件。整个该非挥发性储存元件集合被擦除,直到该非挥发性储存元件集合之一第一非挥发性储存元件子集被验证为已被擦除。该第一非挥发性储存元件子集可包括较快速擦除之非挥发性储存元件。验证该第一非挥发性储存元件子集包括排除验证一第二非挥发性储存元件子集。该第一非挥发性储存元件子集被验证为已被擦除后,禁止擦除该第一非挥发性储存元件子集,同时进一步擦除该第二非挥发性储存元件子集。当该第二非挥发性储存元件子集被验证为已被擦除时,该非挥发性储存元件集合被验证为已被擦除。验证该非挥发性储存元件集合是否已被擦除可包括;排除验证该第一非挥发性储存元件子集,或一起验证该第一非挥发性储存元件子集及该第二非挥发性储存元件子集。依据正被擦除及验证的非挥发性储存元件子集,使用不同步进大小,以更高效率且精确地擦除该非挥发性储存元件集合。
申请公布号 TW200703342 申请公布日期 2007.01.16
申请号 TW095111547 申请日期 2006.03.31
申请人 桑迪士克股份有限公司 发明人 葛瑞特 詹 汉明克;龟井辉彦
分类号 G11C16/06(2006.01);G11C16/34(2006.01) 主分类号 G11C16/06(2006.01)
代理机构 代理人 黄章典;楼颖智
主权项
地址 美国