发明名称 |
含有具伸乙二羰基结构之聚合物的微影蚀刻用抗反射膜形成组成物 |
摘要 |
[课题]本发明系提供于制造半导体装置之微影蚀刻步骤中所使用,显示优良之抗反射效果,且不会引起与光阻的居间混合,具有比光阻更大之蚀刻速度的抗反射膜、及形成该抗反射膜之组成物。[解决手段]含有具伸乙二羰基结构之聚合物及溶剂之微影蚀刻用抗反射膜形成组成物,由该组成物所形成之抗反射膜,及使用该组成物之光阻图型的形成方法。 |
申请公布号 |
TW200702919 |
申请公布日期 |
2007.01.16 |
申请号 |
TW095113976 |
申请日期 |
2006.04.19 |
申请人 |
日产化学工业股份有限公司 |
发明人 |
本力丸 |
分类号 |
G03F7/038(2006.01);G03F7/20(2006.01) |
主分类号 |
G03F7/038(2006.01) |
代理机构 |
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代理人 |
林志刚 |
主权项 |
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地址 |
日本 |