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发明名称
决定半导体装置脉冲性质之系统以及方法
摘要
本发明提供一种决定一半导体装置之脉冲性质之系统及方法。该系统之一实施例包括:至少一对第一及第二探针,其电性地接触该半导体电阻装置之端子;一脉冲产生器,其连接至该第一探针且输出脉冲信号;一示波器,其具有至少一对第一及第二通道,其中该脉冲电信号供应至该第一通道及该第一探针,且该第二通道连接至该第二探针。该示波器使用该第二通道来计算一在该半导体电阻装置之端子中流动之脉冲电流,且使用该第一及该第二通道来决定该半导体电阻装置之一动态电阻。
申请公布号
TW200702677
申请公布日期
2007.01.16
申请号
TW095115739
申请日期
2006.05.03
申请人
三星电子股份有限公司
发明人
堀井秀树;河龙湖
分类号
G01R31/26(2006.01);G01R27/14(2006.01)
主分类号
G01R31/26(2006.01)
代理机构
代理人
陈长文;林嘉兴
主权项
地址
韩国
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