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发明名称
单晶钻石及其制造方法
摘要
本发明之目标为获得具有变形小及面积大、适于半导体元件基板或光学组件材料之高品质单晶钻石。本发明为藉由化学气相沉积制造之单晶钻石,其中,当将由两股相互垂直之线性偏光组成之一线性偏光引入该单晶钻石之一个主面时,自一相反之主面传出的该等两股相互垂直线性偏光之间之最大延迟值为穿过整个单晶钻石每100 μm厚度最大不超过50 μm,且本发明亦为一种制造该钻石之方法。
申请公布号
TW200702299
申请公布日期
2007.01.16
申请号
TW095110951
申请日期
2006.03.29
申请人
住友电气工业股份有限公司
发明人
目黑贵一;山本喜之;今井贵浩
分类号
C01B31/02(2006.01);C03B29/04(2006.01)
主分类号
C01B31/02(2006.01)
代理机构
代理人
陈长文
主权项
地址
日本
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