发明名称 PROCEDE DE MESURE SANS CONTACT D'UN DEPLACEMENT RELATIF OU D'UN POSITIONNEMENT RELATIF D'UN PREMIER OBJET PAR RAPPORT A UN SECOND OBJET, PAR VOIE INDUCTIVE.
摘要 L'invention concerne un procédé de mesure sans contact d'un déplacement relatif ou d'un positionnement relatif d'un premier objet par rapport à un second objet tels que des miroirs segmentés d'un télescope géant, dans lequel:- on excite au moins une bobine émettrice, placée sur le premier objet, par un signal d'excitation alternatif,- on détecte au moins une tension alternative va, générée par mutuelle inductance dans au moins une bobine réceptrice placée sur ledit deuxième objet, ladite au moins une bobine réceptrice étant placée dans un champ magnétique créé par ladite au moins une bobine émettrice, et- on détermine le déplacement relatif du premier objet par rapport au second objet à partir de ladite au moins une tension générée sur ladite au moins une bobine réceptrice.
申请公布号 FR2888319(A1) 申请公布日期 2007.01.12
申请号 FR20050007270 申请日期 2005.07.07
申请人 NANOTEC SOLUTION SOCIETE CIVILE 发明人 ROZIERE DIDIER
分类号 G01D5/20;G01B7/14;G01B7/30 主分类号 G01D5/20
代理机构 代理人
主权项
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