发明名称 晶圆保护层的制作方法与晶圆凸块的制作方法
摘要 一种晶圆保护层的制作方法与晶圆凸块的制作方法。首先,提供一晶圆,其中晶圆具有一主动表面,且主动表面上具有一第一保护层及暴露出该第一保护层之多个焊垫。接着,于晶圆上形成一重配置线路层,且此重配置线路层系与焊垫电性连接。然后,于晶圆上形成一第二保护层,以覆盖重配置线路层。接着,固化该第二保护层。然后,图案化第二保护层,以使保护层暴露出重配置线路层的部分区域。接着,以电浆清洗晶圆之主动表面。然后,再次固化第二保护层。之后,进行一凸块制程。此晶圆保护层的制作方法与晶圆凸块的制作方法可有效降低保护层在后续制程中受损之机率,进而提高制程良率。
申请公布号 TWI270965 申请公布日期 2007.01.11
申请号 TW093131103 申请日期 2004.10.14
申请人 日月光半导体制造股份有限公司 发明人 蔡孟锦
分类号 H01L23/485(2006.01) 主分类号 H01L23/485(2006.01)
代理机构 代理人 詹铭文 台北市中正区罗斯福路2段100号7楼之1;萧锡清 台北市中正区罗斯福路2段100号7楼之1
主权项 1.一种晶圆保护层的制作方法,适用于具有一主动 表面之一晶圆,该晶圆之该主动表面上具有多数个 焊垫及一第一保护层,且该第一保护层暴露出该些 焊垫,该晶圆保护层的制作方法包括: 形成一重配置线路层于该第一保护层及该些焊垫 上,且该重配置线路层系与该些焊垫电性连接; 于该晶圆上形成一第二保护层,以覆盖该重配置线 路层; 进行一第一固化程序,以固化该第二保护层; 图案化该第二保护层,以使该第二保护层暴露出该 重配置线路层的部分区域; 进行一清洗程序于该晶圆之该第二保护层上;以及 进行一第二固化程序,以再次固化该第二保护层。 2.如申请专利范围第1项所述之晶圆保护层的制作 方法,其中该第一固化程序及该第二固化程序包括 一热处理与/或一光化学处理。 3.如申请专利范围第2项所述之晶圆保护层的制作 方法,其中该光化学处理包括紫外光固化。 4.如申请专利范围第1项所述之晶圆保护层的制作 方法,其中该第二保护层之材质包括聚亚醯胺以及 苯环丁烯其中之一。 5.如申请专利范围第1项所述之晶圆保护层的制作 方法,其中该清洗程序包括电浆清洗。 6.一种晶圆凸块的制作方法,包括: 提供一晶圆,其中该晶圆具有一主动表面,且该主 动表面上具有多数个焊垫及一第一保护层,且该第 一保护层暴露出该些焊垫; 形成一重配置线路层于该第一保护层及该些焊垫 上,且该重配置线路层系与该些焊垫电性连接; 于该晶圆上形成一第二保护层,以覆盖该重配置线 路层; 进行一第一固化程序,以固化该第二保护层; 图案化该第二保护层,以使该第二保护层暴露出该 重配置线路层的部分区域; 进行一清洗程序于该晶圆之该第二保护层上; 进行一第二固化程序,以再次固化该第二保护层; 以及 进行一凸块制程于该第二保护层暴露之该重配置 线路层的部分区域。 7.如申请专利范围第6项所述之晶圆凸块的制作方 法,其中在该凸块制程之后,更包括进行一单体化 制程,以得到多数个覆晶晶片。 8.如申请专利范围第6项所述之晶圆凸块的制作方 法,其中该凸块制程包括: 于该第二保护层所暴露出之该重配置线路层的部 分区域上形成多数个球底金属层;以及 于每一该些球底金属层上形成一凸块。 9.如申请专利范围第6项所述之晶圆凸块的制作方 法,其中该第一固化程序及该第二固化程序包括一 热处理与/或一光化学处理。 10.如申请专利范围第9项所述之晶圆凸块的制作方 法,其中该光化学处理包括紫外光固化。 11.如申请专利范围第6项所述之晶圆凸块的制作方 法,其中该第二保护层之材质包括聚亚醯胺以及苯 环丁烯其中之一。 12.如申请专利范围第6项所述之晶圆凸块的制作方 法,其中该清洗程序包括电浆清洗。 图式简单说明: 图1绘示为习知之一种覆晶晶片的剖面示意图。 图2A-2H依序绘示为本发明之较佳实施例之一种晶 圆凸块之制作方法的示意图。 图3绘示为本发明之晶圆凸块的制作流程图。
地址 高雄市楠梓加工出口区经三路26号