| 主权项 |
1.一种可适用不同IC盛装物件之IC检测机,包含: 检测装置:系设有测试台以供IC测试; 第一置料装置:系设于检测装置之侧方,并供承置 料管用以入料IC; 第二置料装置:系设于检测装置之侧方,用以供出 料IC; 取放装置:系于检测装置、第一置料装置及第二置 料装置间移动,用以取放IC。 2.依申请专利范围第1项所述之可适用不同IC盛装 物件之IC检测机,其中,该第一置料装置系为料管置 料装置,其系于支架上设有斜置之轨道以供插置料 管。 3.依申请专利范围第1项所述之可适用不同IC盛装 物件之IC检测机,其中,该检测装置之侧方设有载送 装置用以载送IC。 4.依申请专利范围第1项所述之可适用不同IC盛装 物件之IC检测机,其中,该检测装置系设有一测试台 ,并于两侧设有横移机构及升降机构以带动吸头取 放IC。 5.依申请专利范围第1项所述之可适用不同IC盛装 物件之IC检测机,其中,该取放装置系设有纵、横移 机构及升降机构,并于升降机构设有吸头以取放IC 。 6.一种可适用不同IC盛装物件之IC检测机,包含: 检测装置:系设有测试台以供IC测试; 第一置料装置:系设于检测装置之侧方,用以入料IC ; 第二置料装置:系设于检测装置之侧方,并供承置 料管用以出料IC; 取放装置:系于检测装置、第一置料装置及第二置 料装置间移动,用以取放IC。 7.依申请专利范围第6项所述之可适用不同IC盛装 物件之IC检测机,其中,该第二置料装置系为料管置 料装置,其系于支架上设有转接轨道供插置料管。 8.依申请专利范围第6项所述之可适用不同IC盛装 物件之IC检测机,其中,该检测装置之侧方设有载送 装置用以载送IC。 9.依申请专利范围第6项所述之可适用不同IC盛装 物件之IC检测机,其中,该检测装置系设有一测试台 ,并于两侧设有横移机构及升降机构以带动吸头取 放IC。 10.依申请专利范围第6项所述之可适用不同IC盛装 物件之IC检测机,其中,该取放装置系设有纵、横移 机构及升降机构,并于升降机构设有吸头以取放IC 。 图式简单说明: 第1图:习式料盘专用检测机之配置图。 第2图:习式料管专用检测机之配置图。 第3图:本发明之配置图。 第4图:系本发明以料管入料、料盘出料之使用示 意图。 第5图:系料管置料装置之示意图。 第6图:系料管置料装置之使用示意图。 第7图:第一取放装置取放IC至第一载送装置之示意 图。 第8图:系IC移载至检测装置作测试之示意图。 第9图:系第二取放装置取放IC至料盘置料装置之示 意图。 第10图:系本发明以料管作入、出料之使用示意图 。 第11图:系料管置料装置之示意图。 第12图:系本发明以料盘作入、出料之使用示意图 。 第13图:系本发明以料盘入料、料管出料之使用示 意图。 |
