| 主权项 |
1.一种利用反射原理之光学式水平量测装置,包括: 一雷射光源; 二反射镜; 一钟摆机构; 一二维位置感测器; 一讯号处理器; 一类比/数位讯号转换卡; 一电脑; 将该雷射光源、一反射镜及该位置感测器固定在 架构上,另一反射镜固定于该钟摆机构上,使该反 射镜恒平行水平面,该雷射光源发射雷射光束,打 在该固定于钟摆机构之反射镜上,并反射至该固定 在架构上之反射镜,该雷射光束再反射至该位置感 测器上,该位置感测器所产生之讯号传输至该讯号 处理器,将该讯号转为电压讯号,再将该讯号传输 到该类比/数位转换卡,以将该讯号转成数位讯号, 并连接至该电脑以储存该数位讯号。 2.如申请专利范围第1项所述之一种利用反射原理 之光学式水平量测装置,其中该位置感测器系架设 于不同倾斜程度的待测平面,以测量待测平面两个 互相垂直的水平面倾斜程度。 3.如申请专利范围第1项所述之一种利用反射原理 之光学式水平量测装置,其中该量测装置系利用光 学的反射原理增加系统量测精度。 4.如申请专利范围第1项所述之一种利用反射原理 之光学式水平量测装置,其中该雷射光源系选自下 列任一光源:可见光、微波、红外光、紫外光以及 X射线,视量测环境所需及精度所需而进行更换,且 皆可应用于相对距离量测。 5.如申请专利范围第1项所述之一种利用反射原理 之光学式水平量测装置,其中该位置感测器系为二 维位置感测器。 6.如申请专利范围第1项所述之一种利用反射原理 之光学式水平量测装置,其中该位置感测器系可以 CCD相机(Charge Coupled Device camera)或以量测二维讯号 之感测仪器替代。 7.如申请专利范围第1项所述之一种利用反射原理 之光学式水平量测装置,其中该钟摆机构系以点接 触、万向关节、双向轴承或绳索等机构所组成。 图式简单说明: 图一 反射式光学水平仪平面图; 图二 反射式光学水平仪立体图; 图三 反射式光学水平仪平面光路图; 图四 反射式光学水平仪立体光路图; 图五 水平仪偏摆示意图; 图六 光学水平仪动作流程图; 图七 二维位置感测器校正架构图; 图八(A) 位置感测器校正X轴之流程图; 图八(B) 位置感测器校正Y轴之流程图; 图九 真直度及倾斜度量测路径图; 图十 平行度量测路径图; 图十一 平坦度量测路径图。 |
