Verfahren zur fälschungssicheren Identifikation individueller elektronischer Baugruppen

摘要

Ein Verfahren zur fälschungssicheren Identifikation individueller elektronischer Baugruppen ermittelt die aus einem gezielten Ausfall einer oder mehrerer Hilfsfunktionen eines Speichers (2) einer individuellen elektronischen Baugruppe (1) resultierenden Zustandsänderungen bestimmter Speicherzellen des Speichers (2) und vergleicht sie mit vorab ermittelten, aus dem gezielten Ausfall der Hilfsfunktion des Speichers (2) der elektronischen Baugruppe (1) resultierenden speichercharakteristischen Referenz-Zustandsänderungen bestimmter Speicherzellen des Speichers (2) hinsichtlich Identität.