发明名称 |
SONDEO DE AMBOS LADOS DE DISPOSITIVOS SEMI-CONDUCTORES |
摘要 |
Una cabeza de sonda para la prueba de las propiedades de un dispositivo semiconductor bajo prueba incluyendo una pelicula dielectrica que soporta al menos un dispositivo semiconductor bajo prueba con un marco de soporte rigido que soporta la pelicula dielectrica.
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申请公布号 |
CR8671(A) |
申请公布日期 |
2007.01.05 |
申请号 |
CR20060008671 |
申请日期 |
2006.10.04 |
申请人 |
WENTWORTH LABORATORIES INC |
发明人 |
JEREMY HOPE;ADRIAN R. OVERALL;JOHN J. FITZPATRICK |
分类号 |
G01R1/067;G01R1/073;G01R31/02;G01R31/26 |
主分类号 |
G01R1/067 |
代理机构 |
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代理人 |
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主权项 |
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地址 |
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