| 摘要 |
Es handelt sich um eine Vorrichtung, mit der eine lösbare elektrische Verbindung zwischen einem Tester (12) und einem Prüfadapter(11) hergestellt werden kann, wie z. B. zwischen einem Halbleitertester und einer Probecard oder anderen elektrischen Testgeräten und deren Prüfadaptern. DOLLAR A Die Vorrichtung (10) ist mit axial bewegbar gelagerten Kontaktstiften (15) bestückt. Diese druckfederbeaufschlagten Kontaktstifte (15) sind einerseits mit Oberflächenkontakten (14) der Umsetzer-Leiterplatte (13) eines Prüfadapters (11) verbunden und andererseits über eine Umsetzer-Leiterplatte (17) mit einem Tester (12) in Verbindung bringbar. Dabei sind die Kontaktstifte (15) in Führungsbohrungen (28, 29) zweier planparalleler Platten axial bewegbar gelagert. Die Kontaktstifte (15) haben in den metallisierten Führungsbohrungen (28) der Umsetzer-Leiterplatte (17) elektrischen Kontakt und stellen somit einen elektrischen Kontakt zur Umsetzer-Leiterplatte (17) her. Ferner sind den Kontaktstiften (15) Federelemente (24) zugeordnet, die in separaten Federbohrungen (23) in einer separaten Federelementeplatte (22) untergebracht sind.
|
