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Die Erfindung betrifft ein Verfahren zum Testen eines neuen Supraleiterdrahtes durch Laden einer aktiv abgeschirmten Magnetspulenanordnung (20), die einen ersten Teilbereich (21) umfasst, der mittels eines Zusatzschalters (23) supraleitend kurzschließbar ist. In diesem ersten Teilbereich (21) wird ein Supraleiter verwendet, der unter erhöhter Stromauslastung getestet werden soll ohne dass der Supraleiter im zweiten Teilbereich (22) diese erhöhte Stromauslastung erfährt. Für die beiden Teilbereiche (21, 22) werden jeweils Betriebsströme bestimmt, bei denen im ersten Teilbereich die gewünschte Stromüberhöhung vorliegt und das Gesamtfeld B¶0¶ nur unwesentlich vom standardmäßigen Betriebsfeld der Magnetspulenanordnung abweicht. Diese Betriebsströme werden unter Berücksichtigung der induktiven Kopplung der Teilbereiche (21, 22) durch Laden zunächst der gesamten Magnetspulenanordnung (20), und nach Schließen des Zusatzschalters (23) durch Fortsetzung des Lade- oder Entladevorgangs nur im zweiten Teilbereich (22) eingestellt. Dadurch kann ein Supraleitertest unter NMR-Bedingungen auf kostengünstige Weise in einem NMR-Serienmagneten durchgeführt werden.
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