发明名称 | 检验相移式光罩之相移角的方法、微影制程与相移式光罩 | ||
摘要 | 一种检验相移式光罩之相移角的方法。首先,取得一类型之相移式光罩的相移角对应一制程能力特征值的校正曲线。接着,将待检验之该类型相移式光罩的图案转移至一光阻层上以形成光阻图案,并测量上述制程能力特征值。然后依照上述校正曲线,由该制程能力特征值推得该相移式光罩的实际相移角,以供检验。 | ||
申请公布号 | TW200700939 | 申请公布日期 | 2007.01.01 |
申请号 | TW094121153 | 申请日期 | 2005.06.24 |
申请人 | 联华电子股份有限公司 | 发明人 | 郑永丰;周岳霖;林金隆 |
分类号 | G03F9/00(2006.01) | 主分类号 | G03F9/00(2006.01) |
代理机构 | 代理人 | 詹铭文;萧锡清 | |
主权项 | |||
地址 | 新竹市新竹科学工业园区力行二路3号 |