决定最小操作电压之自我检测电路

摘要

因为性能／功率需求，对于广泛的实际使用状态下都是合适的，一种解决方案，供决定最小操作电压。当维持经由BIST电路的应用性能时，此方法包含一测试流程方法学，供动态地降低实施情况下的功率消耗。在实施情况下另外提供一测试流程方法，供动态地减少功率消耗达到最低可能的待命／特低功率准位，且足够维持资料／状态的资讯。一种可能的应用是，控制ASIC(特定应用积体电路)上一组特定电路的电压供应。这些电路被集结在一电压岛上，它们会接收同一晶片上其他不同电路的电压供应，同样的解决方法可被应用于微处理器的一部份(例如快取逻辑控制)。