| 主权项 |
1.一种于类比测试中可接收数位测试激发讯号之 可重新规划(Reconfigurable)切换电容(Switched-Capacitor) 输入电路,其系应用于具有切换电容式输入电路的 数位可测试架构,该可重新规划切换电容输入电路 包括: 一类比输入讯号,其系具有正相电压讯号及负相电 压讯号; 数个直流电压源,其系包括:一第一直流电压源、 一第二直流电压源、一第三直流电压源、以及一 第四直流电压源; 一运算放大器,其系具有第一输入端、第二输入端 、第一放大器输出端及第二放大器输出端,该运算 放大器将该第二输入端及第一输入端之电压差予 以放大产生一输出电压于该第一放大器输出端与 该第二放大器输出端之间; 至少二切换电容组,每一该等切换电容组系由第一 电容、第二电容及数个类比讯号开关器组合在一 起,每一该等电容具有一个接收端与一个输出端, 且每一该切换电容组具有一相对应之数位激发讯 号,每一该数位激发讯号系为一经过数位三角积分 调变之数位激发位元流(Sigma-Delta modulated digital stimulus bit-stream);以及 一数位开关讯号产生器,其系至少接收一数位模式 讯号,一时脉讯号,该等数位激发讯号,并产生数个 开关讯号控制该等切换电容组之类比讯号开关器, 且该数位模式讯号,具有两个逻辑状态,包括正常 状态及测试状态,该时脉讯号系用以产生至少二不 重叠之时脉相位(clock phases)包括第一时脉相位及 第二时脉相位。 2.如申请专利范围第1项所述之于类比测试中可接 收数位测试激发讯号之可重新规划切换电容输入 电路,其中,在该数位模式讯号为测试状态时,该数 位开关讯号产生器产生数个开关讯号控制该等切 换电容组之类比讯号开关器,使该可重新规划切换 电容输入电路在一测试操作模式下运作,其系依据 该等时脉相位切换该等切换电容组内之电容接收 端或输出端之连接,在该第一时脉相位内,该等切 换电容组之电容输出端连接至该第四直流电压源, 并且该第一数位激发讯号控制该第一切换电容组, 及该第二数位激发讯号控制该第二切换电容组,以 切换相对应之该等切换电容组内之电容接收端之 连接为增加状态或减少状态,且该增加状态为该等 切换电容组之第一电容接收端连接至该第一直流 电压源,该等切换电容组之第二电容接收端连接至 该第二直流电压源,该减少状态为该等切换电容组 之第一电容接收端连接至该第二直流电压源,该等 切换电容组之第二电容接收端连接至该第一直流 电压源;以及在该第二时脉相位内,该等切换电容 组之该等电容接收端接至该第三直流电压源,该等 切换电容组之第一电容之输出端连接至该运算放 大器之第一输入端,该等切换电容组之第二电容之 输 出端连接至该运算放大器之第二输入端。 3.如申请专利范围第2项所述之于类比测试中可接 收数位测试激发讯号之可重新规划切换电容输入 电路,其中,该第一数位激发讯号之增加状态相对 应该第二数位激发讯号之减少状态,并且该第一数 位激发讯号之减少状态相对应该第二数位激发讯 号之增加状态。 4.如申请专利范围第2项所述之于类比测试中可接 收数位测试激发讯号之可重新规划切换电容输入 电路,该等切换电容组之电容及该运算放大器系位 于一待测电路之中,该数位模式讯号为正常状态时 ,该数位开关讯号产生器产生该等开关讯号控制该 等切换电容组之类比讯号开关器,使该可重新规划 切换电容输入电路在一正常操作模式下运作,其系 依据该等时脉相位切换该等切换电容组内之电容 接收端或输出端之连接,在该第一时脉相位内,该 等切换电容组之第一电容接收端连接至该类比输 入正相电压讯号,该等切换电容组之第二电容接收 端连接至该类比输入负相电压讯号,该等切换电容 组之电容输出端连接至该第四直流电压源;以及在 该第二时脉相位内,该等切换电容组之电容接收端 连接至该第三直流电压源,该等切换电容组之第一 电容之输出端连接至该运算放大器之第一输入端, 该等切换电容组之第二电容之输出端连接至该运 算放大器之第二输入端。 5.如申请专利范围第4项所述之于类比测试中可接 收数位测试激发讯号之可重新规划切换电容输入 电路,其中,该正常操作模式之该第一时脉相位相 对应该测试操作模式之该第二时脉相位且该正常 操作模式之该第二时脉相位相对应该测试操作模 式之该第一时脉相位。 6.如申请专利范围第4项所述之于类比测试中可接 收数位测试激发讯号之可重新规划切换电容输入 电路,该正常操作模式依据该等时脉相位切换该等 切换电容组内之电容接收端或输出端之连接,在该 第一时脉相位内,该等切换电容组之第一电容接收 端连接至该类比输入正相电压讯号,该等切换电容 组之第二电容接收端连接至该类比输入负相电压 讯号,该等切换电容组之第一电容之输出端连接至 该运算放大器之第一输入端,该等切换电容组之第 二电容之输出端连接至该运算放大器之第二输入 端,以及在该第二时脉相位内,该等切换电容组之 电容接收端接至第三直流电压源,并且该等切换电 容组之电容输出端接至第四直流电压源。 7.如申请专利范围第6项所述之于类比测试中可接 收数位测试激发讯号之可重新规划切换电容输入 电路,其中,该正常操作模式之该第一时脉相位相 对应该测试操作模式之该第二时脉相位且该正常 操作模式之该第二时脉相位相对应该测试操作模 式之该第一时脉相位。 8.如申请专利范围第1项所述之于类比测试中可接 收数位测试激发讯号之可重新规划切换电容输入 电路,其中,该等切换电容组共用数个类比讯号开 关器。 9.如申请专利范围第1项所述之于类比测试中可接 收数位测试激发讯号之可重新规划切换电容输入 电路,其中,该第三直流电压源为该第一直流电压 源或该第二直流电压源。 10.如申请专利范围第1项所述之于类比测试中可接 收数位测试激发讯号之可重新规划切换电容输入 电路,其中,该第四直流电压源为该第一直流电压 源、该第二直流电压源或该第三直流电压源。 11.如申请专利范围第1项所述之于类比测试中可接 收数位测试激发讯号之可重新规划切换电容输入 电路,其中,该第二数位激发讯号与该第一数位激 发讯号相同,但比该第一数位激发讯号延迟数个周 期。 12.如申请专利范围第4项所述之于类比测试中可接 收数位测试激发讯号之可重新规划切换电容输入 电路,该正常操作模式依据该等时脉相位切换该等 切换电容组内之电容接收端或输出端之连接,在该 第一时脉相位及该第二时脉相位内,该等切换电容 组之第一电容接收端连接至该类比输入正相电压 讯号,该等切换电容组之第二电容接收端连接至该 类比输入负相电压讯号,且该等切换电容组之第一 电容之输出端连接至该运算放大器之第一输入端, 该等切换电容组之第二电容之输出端连接至该运 算放大器之第二输入端。 13.如申请专利范围第4项所述之于类比测试中可接 收数位测试激发讯号之可重新规划切换电容输入 电路,其中,该运算放大器位于一待测电路中,且该 待测电路至少包含第一回授电容与第二回授电容, 该第一回授电容之输出端连接至该运算放大器之 第一放大器输出端,该第一回授电容之输入端连接 至该运算放大器之第一输入端;以及该第二回授电 容之输出端连接至该运算放大器之第二放大器输 出端,该第二回授电容之输入端连接至该运算放大 器之第二输入端。 14.如申请专利范围第1项所述之于类比测试中可接 收数位测试激发讯号之可重新规划切换电容输入 电路,其中,在该数位模式讯号为测试状态时,该数 位开关讯号产生器产生数个开关讯号控制该等切 换电容组之类比讯号开关器,使该可重新规划切换 电容输入电路在一测试操作模式下运作,其系依据 该等时脉相位切换该等切换电容组内之电容接收 端或输出端之连接,在该第一时脉相位内,该等切 换电容组之电容输出端连接至第四直流电压源,该 等切换电容组之第一电容接收端连接至该第一直 流电压源,该等切换电容组之第二电容接收端连接 至该第二直流电压源;以及在该第二时脉相位内, 该等切换电容组之该等电容接收端接至该第三直 流电压源,并且该第一数位激发讯号控制该第一切 换电容组,及该第二数位激发讯号控制该第二切换 电容组,以切换相对应之该等切换电容组内之电容 输出端之连接为增加状态或减少状态,且该增加状 态为该等切换电容组之第一电容输出端连接至该 运算放大器之第一输入端,该等切换电容组之第二 电容输出端连接至该运算放大器之第二输入端,该 减少状态为该等切换电容组之第一电容输出端连 接至该运算放大器之第二输入端,该等切换电容组 之第二电容输出端连接至该运算放大器之第一输 入端。 15.如申请专利范围第14项所述之于类比测试中可 接收数位测试激发讯号之可重新规划切换电容输 入电路,其中,该第一数位激发讯号之增加状态相 对应该第二数位激发讯号之减少状态,并且该第一 数位激发讯号之减少状态相对应该第二数位激发 讯号之增加状态。 16.如申请专利范围第14项所述之于类比测试中可 接收数位测试激发讯号之可重新规划切换电容输 入电路,该等切换电容组之电容及该运算放大器系 位于一待测电路之中,该数位模式讯号为正常状态 时,该数位开关讯号产生器产生该等开关讯号控制 该等切换电容组之类比讯号开关器,使该可重新规 划切换电容输入电路在一正常操作模式下运作,其 系依据该等时脉相位切换该等切换电容组内之电 容接收端或输出端之连接,在该第一时脉相位内, 该等切换电容组之第一电容接收端连接至该类比 输入正相电压讯号,该等切换电容组之第二电容接 收端连接至该类比输入负相电压讯号,该等切换电 容组之电容输出端连接至该第四直流电压源;以及 在该第二时脉相位内,该等切换电容组之电容接收 端连接至该第三直流电压源,该等切换电容组之第 一电容之输出端连接至该运算放大器之第一输入 端,该等切换电容组之第二电容之输出端连接至该 运算放大器之第二输入端。 17.如申请专利范围第16项所述之于类比测试中可 接收数位测试激发讯号之可重新规划切换电容输 入电路,其中,该正常操作模式之该第一时脉相位 相对应该测试操作模式之该第二时脉相位且该正 常操作模式之该第二时脉相位相对应该测试操作 模式之该第一时脉相位。 18.如申请专利范围第16项所述之于类比测试中可 接收数位测试激发讯号之可重新规划切换电容输 入电路,该正常操作模式依据该等时脉相位切换该 等切换电容组内之电容接收端或输出端之连接,在 该第一时脉相位内,该等切换电容组之第一电容接 收端连接至该类比输入正相电压讯号,该等切换电 容组之第二电容接收端连接至该类比输入负相电 压讯号,该等切换电容组之第一电容之输出端连接 至该运算放大器之第一输入端,该等切换电容组之 第二电容之输出端连接至该运算放大器之第二输 入端,以及在该第二时脉相位内,该等切换电容组 之电容接收端接至第三直流电压源,并且该等切换 电容组之电容输出端接至第四直流电压源。 19.如申请专利范围第18项所述之于类比测试中可 接收数位测试激发讯号之可重新规划切换电容输 入电路,其中,该正常操作模式之该第一时脉相位 相对应该测试操作模式之该第二时脉相位且该正 常操作模式之该第二时脉相位相对应该测试操作 模式之该第一时脉相位。 20.如申请专利范围第16项所述之于类比测试中可 接收数位测试激发讯号之可重新规划切换电容输 入电路,该正常操作模式依据该等时脉相位切换该 等切换电容组内之电容接收端或输出端之连接,在 该第一时脉相位及该第二时脉相位内,该等切换电 容组之第一电容接收端连接至该类比输入正相电 压讯号,该等切换电容组之第二电容接收端连接至 该类比输入负相电压讯号,且该等切换电容组之第 一电容之输出端连接至该运算放大器之第一输入 端,该等切换电容组之第二电容之输出端连接至该 运算放大器之第二输入端。 21.如申请专利范围第16项所述之于类比测试中可 接收数位测试激发讯号之可重新规划切换电容输 入电路,其中,该运算放大器位于一待测电路中,且 该待测电路至少包含第一回授电容与第二回授电 容,该第一回授电容之输出端连接至该运算放大器 之第一放大器输出端,该第一回授电容之输入端连 接至该运算放大器之第一输入端;以及该第二回授 电容之输出端连接至该运算放大器之第二放大器 输出端,该第二回授电容之输入端连接至该运算放 大器之第二输入端。 22.如申请专利范围第1项所述之于类比测试中可接 收数位测试激发讯号之可重新规划切换电容输入 电路,其中,该第三直流电压源为该第四直流电压 源,且该数位开关讯号产生器系接收该数位模式讯 号,该时脉讯号,该等数位激发讯号,以及一数位资 料讯号并产生数个开关讯号控制该等切换电容组 之类比讯号开关器;在该数位模式讯号为测试状态 时该数位开关讯号产生器产生数个开关讯号控制 该等切换电容组之类比讯号开关器,使该可重新规 划切换电容输入电路在一测试操作模式下运作,其 系依据该等时脉相位切换每一该等切换电容组内 之电容接收端或输出端之连接,在该第一时脉相位 内,该等切换电容组之电容输出端连接至第四直流 电压源,并且该第一数位激发讯号控制该第一切换 电容组,及该第二数位激发讯号控制该第二切换电 容组,以切换相对应之该等切换电容组内之电容接 收端之连接为增加状态或减少状态,且该增加状态 为该等切换电容组之第一电容接收端连接至该第 一直流电压源,该等切换电容组之第二电容接收端 连接至该第二直流电压源,该减少状态为该等切换 电容组之第一电容接收端连接至该第二直流电压 源,该等切换电容组之第二电容接收端连接至该 第一直流电压源;以及在该第二时脉相位内,该等 切换电容组之第一电容之输出端连接至该运算放 大器之第一输入端,该等切换电容组之第二电容之 输出端连接至该运算放大器之第二输入端,并且该 数位资料讯号控制该第一切换电容组及该第二切 换电容组,以切换该等切换电容组内之电容接收端 之连接为减法状态或加法状态,且该减法状态为该 等切换电容组之第一电容接收端连接至该第一直 流电压源,该等切换电容组之第二电容接收端连接 至该第二直流电压源,该加法状态为该等切换电容 组之第一电容接收端连接至该第二直流电压源,该 等切换电容组之第二电容接收端连接至该第一直 流电压源。 23.如申请专利范围第22项所述之于类比测试中可 接收数位测试激发讯号之可重新规划切换电容输 入电路,其中,该第一数位激发讯号之增加状态相 对应该第二数位激发讯号之减少状态,并且该第一 数位激发讯号之减少状态相对应该第二数位激发 讯号之增加状态。 24.如申请专利范围第22项所述之于类比测试中可 接收数位测试激发讯号之可重新规划切换电容输 入电路,该等切换电容组之电容及该运算放大器系 位于一待测电路之中,该数位模式讯号为正常状态 时,该数位开关讯号产生器产生该等开关讯号控制 该等切换电容组之类比讯号开关器,使该可重新规 划切换电容输入电路在一正常操作模式下运作,其 系依据该等时脉相位切换每一该等切换电容组内 之电容接收端或输出端之连接,在该第一时脉相位 内,该等切换电容组之第一电容接收端连接至该类 比输入正相电压讯号,该等切换电容组之第二电容 接收端连接至该类比输入负相电压讯号,该等切换 电容组之电容输出端连接至该第四直流电压源;以 及在该第二时脉相位内,该等切换电容组之第一电 容之输出端连接至该运算放大器之第一输入端,该 等切换电容组之第二电容之输出端连接至该运算 放大器之第二输入端,并且该数位资料讯号控制该 第一切换电容组及该第二切换电容组,以切换该等 切换电容组内之电容接收端之连接为减法状态或 加法状态,且该减法状态为该等切换电容组之第一 电容接收端连接至该第一直流电压源,该等切换电 容组之第二电容接收端连接至该第二直流电压源 ,该加法状态为该等切换电容组之第一电容接收端 连接至该第二直流电压源,该等切换电容组之第二 电容接收端连接至该第一直流电压源。 25.如申请专利范围第24项所述之于类比测试中可 接收数位测试激发讯号之可重新规划切换电容输 入电路,其中,该正常操作模式之减法状态相对应 该测试操作模式之加法状态,且该正常操作模式之 加法状态相对应该测试操作模式之减法状态。 26.如申请专利范围第24项所述之于类比测试中可 接收数位测试激发讯号之可重新规划切换电容输 入电路,该正常操作模式依据该等时脉相位切换该 等切换电容组内之电容接收端或输出端之连接,在 该第一时脉相位及该第二时脉相位内,该等切换电 容组之第一电容接收端连接至该类比输入正相电 压讯号,该等切换电容组之第二电容接收端连接至 该类比输入负相电压讯号,且该等切换电容组之第 一电容之输出端连接至该运算放大器之第一输入 端,该等切换电容组之第二电容之输出端连接至该 运算放大器之第二输入端。 27.如申请专利范围第24项所述之于类比测试中可 接收数位测试激发讯号之可重新规划切换电容输 入电路,其中,该运算放大器位于一待测电路中,且 该待测电路至少包含第一回授电容与第二回授电 容,该第一回授电容之输出端连接至该运算放大器 之第一放大器输出端,该第一回授电容之输入端连 接至该运算放大器之第一输入端;以及该第二回授 电容之输出端连接至该运算放大器之第二放大器 输出端,该第二回授电容之输入端连接至该运算放 大器之第二输入端。 28.一种于类比测试中可接收数位测试激发讯号之 可重新规划(Reconfigurable)切换电容(Switched-Capacitor) 输入电路,其系应用于具有切换电容式输入电路的 数位可测试架构,该可重新规划切换电容输入电路 包括: 一类比输入讯号,其系具有正相电压讯号及负相电 压讯号; 数个直流电压源,其系包括:一第一直流电压源、 一第二直流电压源、以及一第三直流电压源; 一运算放大器,其系具有第一输入端、第二输入端 、第一放大器输出端及第二放大器输出端,该运算 放大器将该第二输入端及第一输入端之电压差予 以放大产生一输出电压于该第一放大器输出端与 该第二放大器输出端之间; 至少一切换电容组,其系由第一电容、第二电容及 数个类比讯号开关器组合在一起,该第一电容及该 第二电容具有一个接收端与一个输出端,该切换电 容组具有一相对应之数位激发讯号,该数位激发讯 号系为一经过数位三角积分调变之数位激发位元 流(Sigma-Delta modulated digital stimulus bit-stream);以及 一数位开关讯号产生器,其系至少接收一数位模式 讯号,一时脉讯号,该数位激发讯号,并产生数个开 关讯号控制该切换电容组之类比讯号开关器,且该 数位模式讯号具有两个逻辑状态,包括正常状态及 测试状态,该时脉讯号系用以产生至少二不重叠之 时脉相位(clock phases)包含第一时脉相位及第二时 脉相位。 29.如申请专利范围第28项所述之于类比测试中可 接收数位测试激发讯号之可重新规划切换电容输 入电路,其中,在该数位模式讯号为测试状态时,该 数位开关讯号产生器产生数个开关讯号控制该等 切换电容组之类比讯号开关器,使该可重新规划切 换电容输入电路在一测试操作模式下运作,该测试 操作模式系依据该等时脉相位切换该切换电容组 内之电容接收端及输出端之连接,在该第一时脉相 位内,该第一电容接收端连接至该第一直流电压源 ,该第二电容接收端连接至该第二直流电压源,该 电容组之电容输出端连接至该第三直流电压源;以 及在该第二时脉相位内,该第一电容接收端连接至 该第二直流电压源,该第二电容接收端连接至该第 一直流电压源,并且该数位激发讯号控制相对应之 该切换电容组,以切换该切换电容组内之电容输出 端之连接为增加状态或减少状态,且该增加状态为 该第一电容输出端连接至该运算放大器之第一输 入端,该第二电容输出端连接至该运算放大器之第 二输入端,该减少状态为该第一电容输出端连接至 该运算放大器之第二输入端,该第二电容输出端连 接至该运算放大器之第一输入端。 30.如申请专利范围第29项所述之于类比测试中可 接收数位测试激发讯号之可重新规划切换电容输 入电路,该等切换电容组之电容与该运算放大器系 位于一待测电路之中,该数位模式讯号为正常状态 时,该数位开关讯号产生器产生该等开关讯号控制 该等切换电容组之类比讯号开关器,使该可重新规 划切换电容输入电路在一正常操作模式下运作,其 系依据该等时脉相位切换该切换电容组内之电容 接收端及输出端之连接,在该第一时脉相位内,该 第一电容接收端连接至该类比输入正相电压讯号, 该第二电容接收端连接至该类比输入负相电压讯 号,该切换电容组之电容输出端连接至该第三直流 电压源;以及在该第二时脉相位内,该切换电容组 之电容接收端连接至该第二直流电压源,该第一电 容之输出端连接至该运算放大器之第一输入端,该 第二电容之输出端连接至该运算放大器之第二输 入端。 31.如申请专利范围第30项所述之于类比测试中可 接收数位测试激发讯号之可重新规划切换电容输 入电路,其中,该正常操作模式之第一时脉相位对 应该测试操作模式之第二时脉相位且该正常操作 模式之第二时脉相位对应该测试操作模式之第一 时脉相位。 32.如申请专利范围第29项所述之于类比测试中可 接收数位测试激发讯号之可重新规划切换电容输 入电路,该正常操作模式依据该时脉讯号产生之二 不重叠时脉相位切换该切换电容组内之电容接收 端或输出端之连接,在该第一时脉相位内,该第一 电容接收端连接至该类比输入正相电压讯号,该第 二电容接收端连接至该类比输入负相电压讯号,该 第一电容之输出端连接至该运算放大器之第一输 入端,该第二电容之输出端连接至该运算放大器之 第二输入端;以及在该第二时脉相位内,该切换电 容组之电容接收端连接至该第二直流电压源,该切 换电容组之电容输出端连接至该第三直流电压源 。 33.如申请专利范围第32项所述之于类比测试中可 接收数位测试激发讯号之可重新规划切换电容输 入电路,其中,该正常操作模式之第一时脉相位对 应该测试操作模式之第二时脉相位且该正常操作 模式之第二时脉相位对应该测试操作模式之第一 时脉相位。 34.如申请专利范围第28项所述之于类比测试中可 接收数位测试激发讯号之可重新规划切换电容输 入电路,其中包含至少二切换电容组以及与该等切 换电容组相对应之至少二数位激发讯号,该第二数 位激发讯号与该第一数位激发讯号相同,但比该第 一数位激发讯号延迟数个周期。 35.如申请专利范围第34项所述之于类比测试中可 接收数位测试激发讯号之可重新规划切换电容输 入电路,其中,该等切换电容组共用数个类比讯号 开关器。 36.如申请专利范围第35项所述之于类比测试中可 接收数位测试激发讯号之可重新规划切换电容输 入电路,其中,该第三直流电压源为该第一直流电 压源或该第二直流电压源。 37.如申请专利范围第36项所述之于类比测试中可 接收数位测试激发讯号之可重新规划切换电容输 入电路,其中,该第一数位激发讯号之增加状态相 对应该第二数位激发讯号之减少状态,并且该第一 数位激发讯号之减少状态相对应该第二数位激发 讯号之增加状态。 38.如申请专利范围第29项所述之于类比测试中可 接收数位测试激发讯号之可重新规划切换电容输 入电路,其中,该运算放大器位于一待测电路中,且 该待测电路至少包含第一回授电容与第二回授电 容,该第一回授电容之输出端连接至该运算放大器 之第一放大器输出端,该第一回授电容之输入端连 接至该运算放大器之第一输入端;以及该第二回授 电容之输出端连接至该运算放大器之第二放大器 输出端,该第二回授电容之输入端连接至该运算放 大器之第二输入端。 39.如申请专利范围第28项所述之于类比测试中可 接收数位测试激发讯号之可重新规划切换电容输 入电路,其中,在该数位模式讯号为测试状态时,该 数位开关讯号产生器产生数个开关讯号控制该等 切换电容组之类比讯号开关器,使该可重新规划切 换电容输入电路在一测试操作模式下运作,该测试 操作模式系依据该等时脉相位切换该切换电容组 内之电容接收端及输出端之连接,在该第一时脉相 位内,该第一电容输出端连接至该第三直流电压源 ,该第二电容输出端连接至该第三直流电压源,并 且该数位激发讯号控制相对应之该切换电容组,以 切换该切换电容组内之电容接收端之连接为增加 状态或减少状态,且该增加状态为该第一电容接收 端连接至该第一直流电压源,该第二电容接收端连 接至该第二直流电压源,该减少状态为该第一电容 接收端连接至该第二直流电压源,该第二电容接收 端连接至该第一直流电压源,以及在该第二时脉相 位内,该第一电容接收端连接至该第二直流电压源 及输出端连接至该运算放大器之第一输入端,该第 二电容接收端连接至该第二直流电压源及输出端 连接至该运算放大器之第二输入端。 40.如申请专利范围第39项所述之于类比测试中可 接收数位测试激发讯号之可重新规划切换电容输 入电路,该等切换电容组之电容与该运算放大器系 位于一待测电路之中,该数位模式讯号为正常状态 时,该数位开关讯号产生器产生该等开关讯号控制 该等切换电容组之类比讯号开关器,使该可重新规 划切换电容输入电路在一正常操作模式下运作,其 系依据该等时脉相位切换该切换电容组内之电容 接收端及输出端之连接,在该第一时脉相位内,该 第一电容接收端连接至该类比输入正相电压讯号, 该第二电容接收端连接至该类比输入负相电压讯 号,该切换电容组之电容输出端连接至该第三直流 电压源;以及在该第二时脉相位内,该切换电容组 之电容接收端连接至该第二直流电压源,该第一电 容之输出端连接至该运算放大器之第一输入端,该 第二电容之输出端连接至该运算放大器之第二输 入端。 41.如申请专利范围第40项所述之于类比测试中可 接收数位测试激发讯号之可重新规划切换电容输 入电路,其中,该正常操作模式之第一时脉相位对 应该测试操作模式之第二时脉相位且该正常操作 模式之第二时脉相位对应该测试操作模式之第一 时脉相位。 42.如申请专利范围第39项所述之于类比测试中可 接收数位测试激发讯号之可重新规划切换电容输 入电路,该正常操作模式依据该时脉讯号产生之二 不重叠时脉相位切换该切换电容组内之电容接收 端或输出端之连接,在该第一时脉相位内,该第一 电容接收端连接至该类比输入正相电压讯号,该第 二电容接收端连接至该类比输入负相电压讯号,该 第一电容之输出端连接至该运算放大器之第一输 入端,该第二电容之输出端连接至该运算放大器之 第二输入端;以及在该第二时脉相位内,该切换电 容组之电容接收端连接至该第二直流电压源,该切 换电容组之电容输出端连接至该第三直流电压源 。 43.如申请专利范围第42项所述之于类比测试中可 接收数位测试激发讯号之可重新规划切换电容输 入电路,其中,该正常操作模式之第一时脉相位对 应该测试操作模式之第二时脉相位且该正常操作 模式之第二时脉相位对应该测试操作模式之第一 时脉相位。 44.如申请专利范围第39项所述之于类比测试中可 接收数位测试激发讯号之可重新规划切换电容输 入电路,其中,该运算放大器位于一待测电路中,且 该待测电路至少包含第一回授电容与第二回授电 容,该第一回授电容之输出端连接至该运算放大器 之第一放大器输出端,该第一回授电容之输入端连 接至该运算放大器之第一输入端;以及该第二回授 电容之输出端连接至该运算放大器之第二放大器 输出端,该第二回授电容之输入端连接至该运算放 大器之第二输入端。 45.一种于类比测试中可接收数位测试激发讯号之 可重新规划(Reconfigurable)切换电容(Switched-Capacitor) 输入电路,其系应用于具有切换电容式输入电路的 数位可测试架构,该可重新规划切换电容输入电路 包括: 一类比输入讯号,其系具有正相电压讯号及负相电 压讯号; 一数位资料讯号,具有两个逻辑状态,包括加法状 态及减法状态; 数个直流电压源,其系包括:一第一直流电压源、 一第二直流电压源、以及一第三直流电压源; 一运算放大器,其系具有第一输入端、第二输入端 、第一放大器输出端及第二放大器输出端,该运算 放大器将该第二输入端及第一输入端之电压差予 以放大产生一输出电压于该第一放大器输出端与 该第二放大器输出端之间; 至少一切换电容组,其系由第一电容、第二电容及 数个类比讯号开关器组合在一起,该第一电容及该 第二电容具有一个接收端与一个输出端,该切换电 容组具有一相对应之数位激发讯号,该数位激发讯 号系为一经过数位三角积分调变之数位激发位元 流(Sigma-Delta modulated digital stimulus bit-stream);以及 一数位开关讯号产生器,其系至少接收一数位模式 讯号,该数位资料讯号,一时脉讯号,该数位激发讯 号,并产生数个开关讯号控制该切换电容组之类比 讯号开关器,且该数位模式讯号具有两个逻辑状态 ,包括正常状态及测试状态,该时脉讯号系用以产 生至少二不重叠之时脉相位(clock phases)包含第一 时脉相位及第二时脉相位。 46.如申请专利范围第45项所述之于类比测试中可 接收数位测试激发讯号之可重新规划切换电容输 入电路,其中,在该数位模式讯号为测试状态时,该 数位开关讯号产生器产生数个开关讯号控制该等 切换电容组之类比讯号开关器,使该可重新规划切 换电容输入电路在一测试操作模式下运作,该测试 操作模式系依据该时脉相位切换该切换电容组内 之电容接收端及输出端之连接,在该第一时脉相位 内,该切换电容组之电容输出端连接至第三直流电 压源,并且该数位激发讯号控制该第一电容及该第 二电容接收端之连接为增加状态或减少状态,且该 增加状态为该第一电容接收端连接至该第一直流 电压源,该第二电容接收端连接至该第二直流电压 源,该减少状态为该第一电容接收端连接至该第二 直流电压源,该第二电容接收端连接至该第一直流 电压源;以及在该第二时脉相位内,该第一电容之 输出端连接至该运算放大器之第一输入端,该第二 电容之输出端连接至该运算放大器之第二输入端, 并且该数位资料讯号控制该切换电容组,以切换该 切换电容组内之电容接收端之连接为减法状态或 加法状态,且该减法状态为该第一电容接收端连接 至该第一直流电压源,该第二电容接收端连接至 该第二直流电压源,该加法状态为该第一电容接收 端连接至该第二直流电压源,该第二电容接收端连 接至该第一直流电压源。 47.如申请专利范围第46项所述之于类比测试中可 接收数位测试激发讯号之可重新规划切换电容输 入电路,该等切换电容组之电容与该运算放大器系 位于一待测电路之中,该数位模式讯号为正常状态 时,该数位开关讯号产生器产生该等开关讯号控制 该等切换电容组之类比讯号开关器,使该可重新规 划切换电容输入电路在一正常操作模式下运作,其 系依据该等时脉相位切换该切换电容组内之电容 接收端及输出端之连接,在该第一时脉相位内,该 第一电容接收端连接至该类比输入正相电压讯号, 该第二电容接收端连接至该类比输入负相电压讯 号,该切换电容组之电容输出端连接至该第三直流 电压源;以及在该第二时脉相位内,该第一电容之 输出端连接至该运算放大器之第一输入端,该第二 电容之输出端连接至该运算放大器之第二输入端, 并且该数位资料讯号控制该切换电容组,以切换该 切换电容组内之电容接收端之连接为减法状态或 加法状态,且该减法状态为该第一电容接收端连接 至该第一直流电压源,该第二电容接收端连接至该 第二直流电压源,该加法状态为该第一电容接收端 连接至该第二直流电压源,该第二电容接收端连接 至该第一直流电压源。 48.如申请专利范围第47项所述之于类比测试中可 接收数位测试激发讯号之可重新规划切换电容输 入电路,其中,该正常操作模式之减法状态相对应 该测试操作模式之加法状态,且该正常操作模式之 加法状态相对应该测试操作模式之减法状态。 49.如申请专利范围第45项所述之于类比测试中可 接收数位测试激发讯号之可重新规划切换电容输 入电路,其中,更包含至少二切换电容组以及与该 等切换电容组相对应之至少二数位激发讯号,该第 二数位激发讯号与该第一数位激发讯号相同,但比 该第一数位激发讯号延迟数个周期。 50.如申请专利范围第49项所述之于类比测试中可 接收数位测试激发讯号之可重新规划切换电容输 入电路,其中,该等切换电容组共用数个类比讯号 开关器。 51.如申请专利范围第50项所述之于类比测试中可 接收数位测试激发讯号之可重新规划切换电容输 入电路,其中,该第一数位激发讯号之增加状态相 对应该第二数位激发讯号之减少状态,并且该第一 数位激发讯号之减少状态相对应该第二数位激发 讯号之增加状态。 52.如申请专利范围第51项所述之于类比测试中可 接收数位测试激发讯号之可重新规划切换电容输 入电路,其中,该第三直流电压源为该第一直流电 压源或该第二直流电压源。 图式简单说明: 第一图为本发明第一种与第三种实施例之正常操 作模式输入级之操作方法。 第二图为本发明第一种与第二种实施例之测试模 式输入级之操作方法。 第三图为本发明第二种与第四种实施例之正常操 作模式输入级之操作方法。 第四图为本发明第三种与第四种实施例之测试模 式输入级之操作方法。 第五图为本发明第五种实施例之正常操作模式输 入级之操作方法。 第六图为本发明第五种实施例之测试模式输入级 之操作方法。 第七图为本发明第六种与第八种实施例之正常操 作模式输入级之操作方法。 第八图为本发明第六种与第七种实施例之测试模 式输入级之操作方法。 第九图为本发明第七种与第九种实施例之正常操 作模式输入级之操作方法。 第十图为本发明第八种与第九种实施例之测试模 式输入级之操作方法。 第十一图为本发明之第十种实施例之正常操作模 式输入级之操作方法。 第十二图为本发明第十种实施例之测试模式输入 级之操作方法。 第十三图为本发明使用于第三种实施例中一个切 换电容组之一种电路实施例。 第十四图为本发明第三种实施例使用两个切换电 容组之一种电路实施例。 第十五图为本发明第三种实施例使用两个切换电 容组并且该等切换电容组共享数个类比开关器之 电路实施例。 第十六图为本发明使用在二阶三角积分调变器之 一种电路实施例。 第十七图为一种本发明使用在三阶三角积分调变 器之电路实施例。 第十八图为本发明使用在切换电容式低通滤波器 之电路实施例。 |
