发明名称 具有将外来磁性金属物质挑出功能之粒状物用分色装置
摘要 一种分色装置用之磁性金属移除设备,包含中空进料辊(6)。在进料辊的中空部份内,一磁铁(9)被安排使得紧密地相对于中空进料辊的一部份内表面,以使在进料辊的相对应外表面上形成磁力有效表面(C)。被混合在原料粒状物中的磁性金属,系被吸引在磁力有效表面上。在进料辊旋转时,磁力有效表面(C)改变至磁力无效表面( D)。被吸住在进料辊上之磁性金属,自磁力有效表面释放,且被一收集设备(11)所收集。
申请公布号 TWI269671 申请公布日期 2007.01.01
申请号 TW091135070 申请日期 2002.12.03
申请人 佐竹股份有限公司 发明人 池田宪政;谷本宏
分类号 B07C5/342(2006.01) 主分类号 B07C5/342(2006.01)
代理机构 代理人 林志刚 台北市中山区南京东路2段125号7楼
主权项 1.一种粒状物用分色装置,包括: 储料斗(3),用以储存原料粒状物于其内; 转移机构(2,4,10),用以连续地转移该原料粒状物至 一光学侦测点(X1),该转移机构包含具有中空进料 辊(6)之磁性金属移除机构,用以送出被贮存在该储 料斗中之该原料粒状物;一磁铁(9)被安排在该进料 辊之该中空部份内,该磁铁系位于该进料辊之原料 粒状物送出侧,使得该磁铁紧密地相对于该进料辊 之一部份内部表面,而在该进料辊之外部表面的相 对应部份上形成一磁力有效表面(C),该磁力有效表 面吸住被混合在该原料粒状物中的磁性金属;及一 磁性金属件收集机构(11),用以收集自该进料辊之 该磁力有效表面以外的外表面释放之该磁性金属; 光学侦测机构(13a、13b),被安排环绕自该转移机构 释放之该原料粒状物的下降轨迹(X),该光学侦测机 构包括发光机构(14)、背景板(17)及光线接收感测 器(15、16),用以接收在该光学侦测点(X1)处之来自 该背景板与每一该原料粒状物的光线,该发生机构 (14)在该光学侦测点(X1)处照射该背景板(17)与该粒 状物; 确定机构(21),依据在来自该光线接收感测器(15、16 )的光线接收信号与一预定临界値之间的比较,确 定每一该原料粒状物是否为可接受者或应被挑出 之不可接受者,且当确定为不可接受者时,用以输 出排出信号;及 分选机构(18),依据来自该确定机构(21)之该排出信 号,挑出该不可接受者。 2.如申请专利范围第1项之粒状物用分色装置,其中 进一步包括与该进料辊(6)之外表面接触的刮板(12) 。 图式简单说明: 图1系依据本发明之粒状物分色装置的侧剖面图; 图2系图1之分色装置的物体供应机构的侧剖面图; 图3系沿图2中之线3-3取得的剖面图;及 图4系一修正实施例之物体供应机构的侧剖面图。
地址 日本