发明名称 蚀刻设备与蚀刻制程
摘要 本发明提出一种蚀刻设备,适于对铜或银进行蚀刻,其包括过氧化氢槽、氢氧化铵槽、水槽、蚀刻槽、配管系统以及温控装置。配管系统将过氧化氢槽、氢氧化铵槽、水槽连通于蚀刻槽。温控装置配置于过氧化氢槽、氢氧化铵槽以及蚀刻槽的周围,使其温度维持在室温以下且摄氏12度以上。本发明亦提出一种蚀刻制程,其步骤包括先提供温度维持在室温以下且摄氏12度以上之温度范围内的过氧化氢以及氢氧化铵。之后将水与过氧化氢以及氢氧化铵混合以形成一蚀刻液,且蚀刻液之温度亦维持在此温度范围内。接着利用此蚀刻液对铜或银进行蚀刻。
申请公布号 TW200700584 申请公布日期 2007.01.01
申请号 TW094122059 申请日期 2005.06.30
申请人 中华映管股份有限公司 发明人 戴伟仁;吴泉毅;曾美贵;徐名潭
分类号 C23F1/08(2006.01);C23F1/14(2006.01) 主分类号 C23F1/08(2006.01)
代理机构 代理人 詹铭文;萧锡清
主权项
地址 台北市中山区中山北路3段22号