MICROSCOPE A FORCE ATOMIQUE A HARMONIQUE SUPERIEUR

摘要

La présente invention se rapporte à un système de microscopie à force atomique comprenant un embout de sonde placé sur une extrémité d'un bras de levier (2), des moyens d'oscillation (1) apte à faire osciller ledit embout de sonde sensiblement selon la fréquence fondamentale dudit bras de levier, et des moyens de balayage (5) destinés à produire une translation entre l'embout de la sonde oscillant et la surface de l'échantillon de sorte que l'embout de la sonde interagisse avec ladite surface, caractérisé en ce qu'il comprend en outre des moyens de contrôle (7) apte à contrôler lesdits moyens d'oscillation pour faire varier la fréquence d'oscillation dudit embout selon une pluralité d'harmoniques dudit bras de levier.