Verfahren zum Testen von unbestückten, großflächigen Leiterplatten mit einem Fingertester

摘要

Die Erfindung betrifft ein Verfahren zum Testen von unbestückten, großflächigen, Leiterbahnen aufweisenden Leiterplatten mit einem Fingertester. DOLLAR A Gemäß dem erfindungsgemäßen Verfahren werden die Leiterplatten in mehreren Segmenten unterteilt getestet, wobei Leiterbahnen, die sich über ein Segment hinauserstrecken, mittels kapazitiver Messung der in dem jeweiligen Segment befindlichen Endpunkte getestet werden, wobei eine Unterbrechung der Leiterbahn festgestellt wird, falls sich ein Messwert der zu einer Leiterbahn gehörenden kapazitiven Messwerte sich von anderen Messwerten signifikant unterscheidet.