发明名称 |
利用数字锁相环和一致性检测器的内置波形边沿去偏 |
摘要 |
本发明公开了利用数字锁相环和一致性检测器的内置波形边沿去偏。根据本发明的一种测试数字器件的自动测试设备包括:多条驱动通道,每条驱动通道在第一预定时间周期处将数据向量的一位提供给DUT;多条接收通道,每条接收通道在第二预定时间周期处锁存来自所述DUT的数据的接收位,所述第二预定时间段开始于零接收点;所述多条驱动通道中的每条还包括第一驱动通道校准电路,第一驱动通道校准电路使每条驱动通道在第一预定时间周期中将数据向量的所述位提供给DUT;并且所述多条接收通道中的每条还包括第一接收通道校准电路,第一接收通道校准电路使每条接收通道被校准为在第二预定时间周期内刚好在零接收点后锁存接收位。 |
申请公布号 |
CN1885053A |
申请公布日期 |
2006.12.27 |
申请号 |
CN200610082979.7 |
申请日期 |
2006.06.23 |
申请人 |
安捷伦科技有限公司 |
发明人 |
罗伯特·爱德华·麦克·奥利夫 |
分类号 |
G01R31/28(2006.01);G01R31/317(2006.01) |
主分类号 |
G01R31/28(2006.01) |
代理机构 |
北京东方亿思知识产权代理有限责任公司 |
代理人 |
王怡 |
主权项 |
1.一种测试数字器件的自动测试设备,所述自动测试设备包括:多条驱动通道,每条驱动通道在第一预定时间周期处将数据向量的一位提供给被测器件;多条接收通道,每条接收通道在第二预定时间周期处锁存来自所述被测器件的数据的接收位,所述第二预定时间段开始于零接收点;所述多条驱动通道中的每条还包括第一驱动通道校准电路,所述第一驱动通道校准电路对每条驱动通道中的第一驱动通道可编程延迟元件进行调节,以针对与每条驱动通道相关联的寄生延迟对所述多条驱动通道去偏,以使每条驱动通道在所述第一预定时间周期中将所述数据向量的所述位提供给所述被测器件;以及所述多条接收通道中的每条还包括第一接收通道校准电路,所述第一接收通道校准电路对每条接收通道中的第一接收通道可编程延迟元件进行调节,以针对与每条接收通道相关联的寄生延迟对所述多条接收通道去偏,以使每条接收通道被校准为在所述第二预定时间周期内刚好在所述零接收点后锁存所述接收位。 |
地址 |
美国加利福尼亚州 |