发明名称 | 半导体存储器的数据存取方法以及半导体存储器 | ||
摘要 | 在进行独立于外部存取操作的刷新操作的情形中,给出了半导体存储器的数据存取方法和半导体存储器,其中设置了适合于外部存取操作和刷新操作中每一个的时间。当时间测定启动信号“SIN”进入路径开关装置时,该路径开关装置与受外部存取操作启动信号REQ(O)和内部存取操作启动请求信号REQ(I)控制的第一定时电路或第二定时电路连通。第一和第二定时部分都测定时间“τO”和时间“τI”以输出时间测定终止信号“SOUT”。测量时间“τO”相当于执行外部存取操作时位线对的差分放大时间,而测量时间“τI”相当于执行刷新操作时的差分放大时间。作为选择,测量时间“τO”还可以如此设置为受读/写操作的改变。因而,每个操作模式都可设置合适的放大时间。 | ||
申请公布号 | CN1292439C | 申请公布日期 | 2006.12.27 |
申请号 | CN02150534.9 | 申请日期 | 2002.11.12 |
申请人 | 富士通株式会社 | 发明人 | 加藤好治 |
分类号 | G11C11/403(2006.01) | 主分类号 | G11C11/403(2006.01) |
代理机构 | 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 | 代理人 | 王永刚 |
主权项 | 1.半导体存储器的数据存取方法,该半导体存储器进行外部存取操作和刷新操作,外部存取操作用于相对于外部器件输入/输出数据,刷新操作对应于不相对于外部器件进行输入/输出操作的内部存取操作,该方法包括如下步骤:测量作为外部存取操作期间位线对的差分放大时间的第一时间;以及测量作为刷新操作期间位线对的差分放大时间的第二时间;其中,第二时间短于第一时间。 | ||
地址 | 日本神奈川 |