发明名称 |
指状测试器及其测试探针 |
摘要 |
本发明涉及指状测试器的测试探针,用于测试非构成件型电路板。测试探针具有带探针尖端的测试针,探针尖端可接触到电路板测试点,并可通过至少两弹性定位臂而枢转接合于一座架。本发明的特点在于至少一固定臂由导电材料制成,并电连接测试针。本发明的指状测试器具有测试探针,该测试探针由特殊线型马达驱动。 |
申请公布号 |
CN1292258C |
申请公布日期 |
2006.12.27 |
申请号 |
CN02822468.X |
申请日期 |
2002.11.14 |
申请人 |
德商·Atg测试系统股份有限公司 |
发明人 |
维克多·罗曼诺夫 |
分类号 |
G01R1/067(2006.01);G01R31/28(2006.01) |
主分类号 |
G01R1/067(2006.01) |
代理机构 |
北京科龙寰宇知识产权代理有限责任公司 |
代理人 |
孙晧晨 |
主权项 |
1.一种指状测试器的测试探针,用于测试电路板,其不具独立驱动器,且该测试探针具有带探针尖端的测试针,该探针尖端可接触到电路板测试点,测试针可通过至少两对弹性定位臂而枢转接合于座架,其中至少一定位臂由导电材料制成,并电连接该测试针,其中每对定位臂设置在一个平面内,使其一端固定在测试针上,而使其另一端固定在座架上,当俯视时其展开呈三角形。 |
地址 |
德国威尔斯依姆市 |