| 摘要 |
一种方法包括形成一映射档案和用来测试一电子封装体之一封装体测试程式。该封装体包含一元件。封装体测试程式包含测试元件用之元件测试程式之来源码、和来自于该映射档案之来源码。元件测试程式来源码包含参照至识别相关元件接脚之一元件接脚识别符。各个经识别的元件接脚系附接至相关封装体接脚。各个封装体接脚系以一封装体接脚识别符识别。映射档案再度定义各个元件接脚识别符成为于封装体测试程式中的相关联的封装体接脚识别符。于由该元件测试程式来源码所形成的封装体测试程式中之至少一指令系布建来将一测试器资源附接至该等封装体接脚之一，系适当作动该测试器资源。 |
