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经营范围
发明名称
样品保持电路以及半导体装置
摘要
一第一取样电容器3连接于一第一类比开关1之一输出端子与接地之间,且一第二类比开关2之一输入端子连接至一节点,该节点位于该第一类比开关1与该第一取样电容器3之间。一第二取样电容器4连接于该第二类比开关2之一输出端子与接地之间。一控制部件在一输入电压被施加至该第一类比开关1之该输入端子之状态下,接通该第一类比开关1及该第二类比开关2,其后切断该第二类比开关2,随后切断该第一类比开关1,且随后接通该第二类比开关2。
申请公布号
TW200643887
申请公布日期
2006.12.16
申请号
TW095110980
申请日期
2006.03.29
申请人
夏普股份有限公司
发明人
平岛博之
分类号
G09G3/36(2006.01);H03M1/00(2006.01)
主分类号
G09G3/36(2006.01)
代理机构
代理人
陈长文;林宗宏
主权项
地址
日本
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