发明名称 样品保持电路以及半导体装置
摘要 一第一取样电容器3连接于一第一类比开关1之一输出端子与接地之间,且一第二类比开关2之一输入端子连接至一节点,该节点位于该第一类比开关1与该第一取样电容器3之间。一第二取样电容器4连接于该第二类比开关2之一输出端子与接地之间。一控制部件在一输入电压被施加至该第一类比开关1之该输入端子之状态下,接通该第一类比开关1及该第二类比开关2,其后切断该第二类比开关2,随后切断该第一类比开关1,且随后接通该第二类比开关2。
申请公布号 TW200643887 申请公布日期 2006.12.16
申请号 TW095110980 申请日期 2006.03.29
申请人 夏普股份有限公司 发明人 平岛博之
分类号 G09G3/36(2006.01);H03M1/00(2006.01) 主分类号 G09G3/36(2006.01)
代理机构 代理人 陈长文;林宗宏
主权项
地址 日本