半导体测试用程式除错装置

摘要

本发明的目的在于提供一种半导体测试用程式除错装置，系可在使用规格相异之半导体测试装置或半导体测试程式时，减少不必要之设备者，并且该半导体测试用程式除错装置包含有：虚构元件，系用以仿真被测试元件的动作者；专用、泛用测试台处理部，系用以生成与虚构元件之间输入出之假测试讯号和应答讯号者；变换源程式储存部，系用以分别储存复数规格相异之半导体测试用程式者；专用、泛用变换规则储存部，系用以储存分别对应复数规格之变换规则者；及变换处理部，系使用变换规则来变换储存于变换源程式储存部之半导体测试用程式，并藉此生成专用、泛用测试台处理部者。