发明名称 PROCEDE ET DISPOSITIF OPTIQUES DE DETECTION DE DEFAUTS DE SURFACE ET DE STRUCTURE D'UN PRODUIT LONG EN DEFILEMEMNT
摘要 La présente invention a pour objet un procédé et dispositif optiques de détection de défauts de surface et de structure d'un produit long en défilement. Elle s'applique particulièrement aux produits métalliques en cours de laminage à chaud.Selon l'invention on utilise pour la détection simultanée de défauts situés sur la surface et sous la surface de produits longs l'acquisition et le traitement d'images du produit issues de caméras (31, 32, 33, ... ) disposées tout autour, les dites images étant constituées pour une partie par de la lumière dont la longueur d'onde est dans le domaine infrarouge et pour une autre partie par de la lumière dont la longueur d'onde est dans le spectre visible. Selon l'invention la lumière située dans le domaine infrarouge est celle émise par le produit lui-même, et la lumière visible est émise par un éclairage additionnel de couleur verte, jaune ou bleue.L'acquisition des images de toutes les caméras est synchronisée.Le dispositif de l'invention est constitué d'une pluralité de caméras comportant des cellules sensibles CCD (313) équipées de filtres (311), de manière à élaborer et comparer les images issues de la lumière dont la longueur d'onde est dans le domaine infrarouge et celles issues de la lumière dont la longueur d'onde est située dans le domaine visible.Installation de laminage à chaud d'un produit long équipée du dispositif de détection de défauts de surface et sous la surface selon le procédé de l'invention.
申请公布号 FR2887028(A1) 申请公布日期 2006.12.15
申请号 FR20050006039 申请日期 2005.06.14
申请人 VAI SIAS SOCIETE PAR ACTIONS SIMPLIFIEE 发明人 JANIN PIERRE JEAN;PEYSSARD MATHIEU
分类号 G01N21/89 主分类号 G01N21/89
代理机构 代理人
主权项
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