发明名称 APPAREILLAGE DE MESURE DE TEMPERATURE SANS CONTACT D'ECHANTILLONS DE MATERIAUX PLACES SOUS VIDE
摘要 L'invention concerne un appareillage de mesure sans contact (1) d'échantillons de matériaux (2) placés dans une enceinte sous vide (12). Une lampe UV (6) illumine les échantillons (2) au travers d'une fenêtre (4), de manière à les soumettre à un cycle thermique prédéterminé et effectuer un test environnemental, notamment pour des matériaux destinés à des missions spatiales. Un pyromètre externe mesure la température des échantillons (2) au travers d'une fenêtre (5). Il est associé à un module de balayage (9) comprenant un miroir mobile, à deux axes de rotation et trois axes de translations orthogonaux, disposé sur le chemin optique du rayonnement infrarouge (Rir) de manière à obtenir un balayage en deux dimensions de chaque échantillon (2) à l'aide d'une tache de mesure focalisée sur la surface des échantillons. Dans un mode préféré, les échantillons sont de faible épaisseur et verrouillés plaqués sur un support bombé. L'ensemble est piloté par un système de traitement automatique de données à programme enregistré (10).
申请公布号 FR2887029(A1) 申请公布日期 2006.12.15
申请号 FR20050051563 申请日期 2005.06.09
申请人 ORGANISATION INTERGOUVERNEMENTALE DITE AGENCE SPATIALE EUROPEENNE 发明人 SEMPRIMOSCHNIG CHRISTOPH;VAN EESBEEK MARC R J;HELTZEL STAN
分类号 G01N25/72;G01J5/20 主分类号 G01N25/72
代理机构 代理人
主权项
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