发明名称 |
CMOS图像传感器及其制造方法 |
摘要 |
本发明公开了一种CMOS图像传感器及其制造方法。该CMOS图像传感器包括:第一导电型半导体衬底,通过隔离区和有源区来限定,该有源区包括蓝光电二极管区和晶体管区;隔离层,形成在半导体衬底的隔离区中;第一扩散区,具有与半导体衬底相同的导电类型,形成在蓝光电二极管区中,靠近隔离层的一侧;栅绝缘层和栅电极,形成在晶体管区的衬底上;以及第二扩散区,具有与半导体衬底相反的导电类型,形成在蓝光电二极管区中,远离隔离层,其中第一扩散区设置在第二扩散区和隔离层之间。 |
申请公布号 |
CN1877847A |
申请公布日期 |
2006.12.13 |
申请号 |
CN200610083369.9 |
申请日期 |
2006.06.06 |
申请人 |
东部电子株式会社 |
发明人 |
韩昌勋 |
分类号 |
H01L27/146(2006.01);H01L21/822(2006.01) |
主分类号 |
H01L27/146(2006.01) |
代理机构 |
北京集佳知识产权代理有限公司 |
代理人 |
顾晋伟;刘继富 |
主权项 |
1.一种CMOS图像传感器,包括:第一导电型半导体衬底,通过隔离区和有源区来限定,所述有源区包括蓝光电二极管区和晶体管区;隔离层,形成在所述半导体衬底的所述隔离区中;第一扩散区,具有与所述半导体衬底相同的导电类型,形成在所述蓝光电二极管区中,靠近所述隔离层的一侧;栅绝缘层和栅电极,形成在所述晶体管区的衬底上;以及第二扩散区,具有与所述半导体衬底相反的导电类型,形成在所述蓝光电二极管区中,远离所述隔离层,其中所述第一扩散区设置在所述第二扩散区和所述隔离层之间。 |
地址 |
韩国首尔 |