| 发明名称 | 一种以太网物理层接口指标测试仪 | ||
| 摘要 | 一种涉及测试设备的以太网物理层接口指标测试仪，至少包括一个以太网网口电路，所述网口电路包括网口芯片和相应的接口，还包括一信号采样设备，所述信号采样设备具有差分探头，所述差分探头的两端连有电阻，本实用新型对于指标测试没有局限性，测试效率高，实用性强，可靠性好。 | ||
| 申请公布号 | CN2847711Y | 申请公布日期 | 2006.12.13 |
| 申请号 | CN200520067904.2 | 申请日期 | 2005.11.16 |
| 申请人 | 华为技术有限公司 | 发明人 | 许德标 |
| 分类号 | H04L12/26(2006.01) | 主分类号 | H04L12/26(2006.01) |
| 代理机构 | 代理人 | ||
| 主权项 | 1.一种以太网物理层接口指标测试仪，其特征在于：包括：至少一以太网网口电路，所述网口电路包括网口芯片和相应的接口；信号采样设备，所述信号采样设备具有差分探头，所述差分探头的两端连有电阻；所述差分探头的两端与所述接口中的发送信号对分别连接于插座的各端。 | ||
| 地址 | 518129广东省深圳市龙岗区坂田华为总部办公楼 | ||