发明名称 测距方法及装置
摘要 所述测距方法以一个由被瞄准的测量目标反射回或散射的测量光线的相位测量为基础。在这里,测量目标接受一个由测距装置发出的并经过强度调制的光测量辐射,由测量目标反射回或散射的测量辐射由一个安置在测距装置中的接收器来探测并被转变成电测量信号。然后,电测量信号与标准信号进行比较,该标准信号是从一由已知的标准距离推导出的测量光量的探测和转换中产生的,以便根据求得的相位差得到在测距装置和测量目标之间的距离。所发出的测量辐射接受色同步脉冲调制,接收器的测量信号只在有效的色同步脉冲时间内进行分析处理。还描述了用于实施该方法的装置。
申请公布号 CN1289919C 申请公布日期 2006.12.13
申请号 CN01814664.3 申请日期 2001.08.10
申请人 莱卡地球系统公开股份有限公司 发明人 库尔特·吉格
分类号 G01S17/36(2006.01) 主分类号 G01S17/36(2006.01)
代理机构 中国专利代理(香港)有限公司 代理人 胡强;赵辛
主权项 1.测距方法,它基于光测量辐射的相位测量,所述光测量辐射由一被瞄准的测量目标反射回来或散射,该测量目标接收一个由测距装置发出的并经过强度调制的光测量辐射,由该测量目标反射回或散射的测量辐射通过一个安置在测距装置中的接收器来探测并将其转换成电测量信号,该电测量信号与一个标准信号进行比较,所述标准信号是从一由已知的标准距离推导出的测量光量的探测和转换中产生的,以便从所求得的相位差中求出在测距装置和测量目标之间的距离,其特征在于:所发出的测量辐射接受色同步脉冲调制,该接收器的测量信号在一个仅与一个有效色同步脉冲时间有关的时间段内进行处理。
地址 瑞士希尔布鲁格