用低精度测量系统进行高精度测量的方法

摘要

一种用低精度测量系统进行高精度测量的方法，属于测量技术领域。本发明通过被测量或控制系统中的物理量，用精度为测量系统，连续或者断续的进行等精度测量N次，采集到一组等精度测量数据序列X_i (i＝1，2，…N)，所用的时间为ΔT；将得到的数据送入计算机进行处理后得到测量结果。对实时要求不高或无实时要求的测量或控制环境，利用低精度的测量系统，通过误差理论，对被测信号数据进行数据处理，在提高测量精度，达到系统的精度要求的同时，大幅度地降低测量系统的成本。

主权项

1、一种用低精度测量系统进行高精度测量的方法，其特征在于：被测量或控制系统中的物理量X，用精度为d％测量系统，连续或者断续的进行等精度测量N次，采集到一组等精度测量数据序列Xi(i＝1，2，…N)，所用的时间为ΔT；将得到的数据送入计算机进行处理后得到测量结果。