| 发明名称 | 接触阻抗的测量方法及其结构 | ||
| 摘要 | 本发明提出一种测量方法，首先将一形成在一电路板上的两暂置(dummy)电路导线连接，接着将此电路板与一待测电路耦接，其中待测电路中的两引脚分别耦接于两暂置(dummy)电路导线，而构成一导通电路，最后点测此两引脚。 | ||
| 申请公布号 | CN1877347A | 申请公布日期 | 2006.12.13 |
| 申请号 | CN200610103066.9 | 申请日期 | 2006.07.11 |
| 申请人 | 友达光电股份有限公司 | 发明人 | 惠小燕;冯绪文;王华 |
| 分类号 | G01R27/02(2006.01);G01R31/02(2006.01) | 主分类号 | G01R27/02(2006.01) |
| 代理机构 | 北京市柳沈律师事务所 | 代理人 | 魏晓刚;李晓舒 |
| 主权项 | 1.一种测量方法，是用以测量一电路板上引脚与一基板的接触阻抗，包括：将该基板上多个条导线中的第一导线与第二导线耦接；将该基板与该电路板耦接，使得该电路板上两引脚分别耦接于该第一与第二导线，其中该两引脚与耦接的该第一与第二导线形成一导通电路；以及点测该两引脚，以获得一阻抗值。 | ||
| 地址 | 中国台湾新竹市 | ||