| 主权项 |
1.一种电子产品外观检测设备,包括:一旋转盘;一供应装置,用以连续供应多数个电子产品至该旋转盘;一对位装置,具有一第一对位器,该第一对位器内具有一通道,该通道系用以导引该些电子产品,以使该些电子产品置放于该旋转盘上之一检测轨道上;以及一照相装置,用以对该检测轨道上之该些电子产品的每一面进行拍照。2.如申请专利范围第1项所述之电子产品外观检测设备,其中该第一对位器之该通道包括:一输入通道,该输入通道系直线通道,以使该些电子产品输入并且排列成排;以及一输出通道,该输出通道系弯曲通道,用以将在该输入通道中经排列之该些电子产品输出至该检测轨道上。3.如申请专利范围第2项所述之电子产品外观检测设备,其中该旋转盘系圆形,该检测轨道系圆形轨道且配置于该旋转盘之边缘处,而该输出通道之曲率系与该检测轨道之曲率相同。4.如申请专利范围第1项所述之电子产品外观检测设备,其中该对位装置更包括一第二对位器,用以对脱离该检测轨道之该些电子产品进行再排列,该些电子产品系因该旋转盘之旋转所产生的离心力而脱轨,且该第二对位器包括一导引件,该导引件之中央部系凸面。5.如申请专利范围第1项所述之电子产品外观检测设备,更包括:一编码器,用以抓取该些电子产品之位置资讯;一微电脑,用以接收、处理并控制该照相装置所拍摄之影像的信号、该编码器之信号与一计数感测器之信号,该计数感测器系用以量测该些电子产品的数量;一控制件,用以根据该微电脑之信号而输出一控制信号;以及一分析装置,该分析装置系藉由该控制件之信号,而根据该些电子产品的检测结果对该些电子产品进行分析。6.如申请专利范围第1项所述之电子产品外观检测设备,其中该照相装置包括:一支撑架,该支撑架上配设有多数个发光二极体,该些发光二极体系用以发出光线至该些电子产品;以及一摄影镜头,用以对该些电子产品进行拍照。7.如申请专利范围第6项所述之电子产品外观检测设备,其中该照相装置更包括一控制器,用以控制该些发光二极体,使其根据该些电子产品之种类的不同而分别发光或群体发光。8.如申请专利范围第6项所述之电子产品外观检测设备,其中该旋转盘之材质系玻璃,而该照相装置包括拍摄该些电子产品之上部的一上部照相单元与拍摄该些电子产品之下部的一下部照相单元,且配设于该下部照相单元之该支撑架的该些发光二极体与配设于该上部照相单元之该支撑架的该些发光二极体其配设角度系彼此不同,因此光线在穿过该旋转盘且折射后,照射至该些电子产品之下部的光线与照射至该些电子产品之上部的光线其光入射角系彼此相同。9.如申请专利范围第8项所述之电子产品外观检测设备,其中配设于该支撑架之一凹陷部中央的该些发光二极体系蓝光发光二极体,配设于该支撑架之该凹陷部一侧的该些发光二极体系绿光发光二极体,配设于该支撑架之该凹陷部另一侧的该些发光二极体系白光发光二极体。10.如申请专利范围第6项所述之电子产品外观检测设备,其中该旋转盘之材质系玻璃,而该照相装置拍摄该些电子产品之前面、后面或侧面,且该摄影镜头系朝向该些电子产品之前面、后面或侧面而配设,该支撑架包括:一上部支撑架,配设于该旋转盘之边缘处,该上部支撑架上配设有部分该些发光二极体;以及一下部支撑架,配设于该旋转盘下且对应于该上部支撑架,而该下部支撑架上亦配设有部分该些发光二极体,且配设于该下部支撑架的该些发光二极体与配设于该上部支撑架之凹陷部的该些发光二极体其配设角度系彼此不同,以使相对配设于上下的该些发光二极体所发出之光线照射至该些电子产品之光入射角彼此相同。11.如申请专利范围第8项所述之电子产品外观检测设备,其中邻近于该凹陷部之一影像撷取孔而配设之该些发光二极体的主轴与该些电子产品之拍照面所夹的角度系大于等于75度,而该影像撷取孔系做为该摄影镜头拍摄之用。12.一种电子产品外观检测设备,包括:一旋转盘;一供应装置,用以连续供应多数个电子产品至该旋转盘;一对位装置,用以导引该些电子产品至该旋转盘上之一检测位置上;以及一照相装置,具有一支撑架与一摄影镜头,其中多数个发光二极体系配设于该支撑架上,且根据配设于该支撑架之一凹陷部的位置而分别发出不同色光。13.如申请专利范围第12项所述之电子产品外观检测设备,其中该旋转盘之材质系玻璃,而该照相装置包括拍摄该些电子产品之上部的一上部照相单元与拍摄该些电子产品之下部的一下部照相单元,且配设于该下部照相单元之该支撑架的该些发光二极体与配设于该上部照相单元之该支撑架的该些发光二极体其配设角度系彼此不同,因此光线在穿过玻璃且折射后,照射至该些电子产品之下部的光线与照射至该些电子产品之上部的光线其光入射角系彼此相同。14.如申请专利范围第12项所述之电子产品外观检测设备,其中邻近于一影像撷取孔而配设之该些发光二极体的主轴与该些电子产品之拍照面所夹的角度系大于等于75度,而该影像撷取孔系用以藉由该摄影镜头拍摄该凹陷部。15.如申请专利范围第12项所述之电子产品外观检测设备,更包括一控制器,用以分别或群体控制该些发光二极体之发光强度。图式简单说明:第1图绘示为根据本发明较佳实施例之一电子产品检测设备的方块图。第2图绘示为根据本发明较佳实施例之电子产品检测设备的上视图。第3图绘示为第2图之对位装置的放大图。第4图绘示为一半导体晶片的示意图。第5图绘示为一上部照相单元的示意图。第6图绘示为在上部照相单元之支撑架上,配设有发光二极体之部分的剖面图。第7图绘示为支撑架的底视图,用以显示第6图之发光二极体的排列位置。第8图绘示为一实施例之发光二极体根据其发出之色光而决定配设位置的示意图。第9图绘示为一实施例之发光二极体根据其配设位置而决定配设角度的示意图。第10图绘示为在下部照相单元之支撑架上,配设有发光二极体之部分的剖面图。第11图绘示为支撑架在一前面照相单元之配设位置的剖面示意图。第12图绘示为第11图之支撑架自方向A的底视图。第13A、13B图绘示为使用本发明的电子产品检测设备以进行检测之方法的流程图。 |
