| 主权项 |
1.一种降低数位化器中杂讯之方法,该数位化器包含用于检测处于数个预定频率其中之一的一电磁信号之多个检测元件;该方法包含有下列步骤:实质同时取样至少两上述检测元件以取得其输出,以及将该等两元件其中之一的输出,根据该等元件中之另一元件的输出予以降低。2.如申请专利范围第1项之方法,其中该等至少两元件其中之一获选定为一尖笔信号之一候选载体,而该等至少两元件中之另一个则获选定为纯杂讯之一候选载体。3.如申请专利范围第2项之方法,更包含于该等元件中之每一元件检测该一预定频率与另一任意频率。4.如申请专利范围第3项之方法,更包含采用该任意频率来估计处于该预定频率之杂讯总量。5.如申请专利范围第3项之方法,更包含有下列步骤:判定在该纯杂讯之候选载体处,该一预定频率与该任意频率之信号间的一个比率,从该比率与在该尖笔信号之该候选载体处的任意信号,来判定处于该一预定频率之杂讯总量,以及将一尖笔信号之该候选载体上处于该一预定频率之一信号,降低该所判定杂讯总量。6.如申请专利范围第5项之方法,其中该任意频率系选定为在具有一相当高杂讯之一预设检测范围中的一个频率。7.如申请专利范围第5项之方法,其中该数位化器亦用作触压检测,而该任意频率系选定为已用于该触压检测之一频率。8.如申请专利范围第5项之方法,更进一步包含刻意产生处于该任意频率的杂讯。9.如申请专利范围第5项之方法,其中该预定频率于使用期间遭改变成一新频率,该方法包含将该任意频率从相当接近该预定频率之一频率,改变成相当接近该新频率之一第二频率。10.如申请专利范围第2项之方法,其中该纯杂讯之候选载体系从展示超过一临界杂讯总量的一元件群组中,来选定为该群组中与一尖笔先前已知位置距离最远的元件。11.如申请专利范围第2项之方法,其中只要在与一尖笔先前已知位置相距一所决定距离之外,该纯杂讯之候选载体是选定为展示一最强杂讯信号之一元件。12.如申请专利范围第2项之方法,其中:该纯杂讯之候选载体获选定,杂讯减少作用系基于该选定属正确者,而针对一元件群组实施,在该元件群组上所得之一信号图型会接受分析,以及倘若该所得信号图型指出为一正确选定,则允许该任意选定,否则即作一次新的任意选定。13.如申请专利范围第12项之方法,更包含使用指出一尖笔位于多个非选定元件其中之一处的一第一图型、以及指出无尖笔存在之一第二图型,作为表示一正确选定之图型。14.如申请专利范围第12项之方法,更包含在实施该降低作用前验证一尖笔是否存在。15.如申请专利范围第1项之方法,更包含藉由比较该任意频率之幅度与该预定频率之幅度,在实施该降低作用前验证一尖笔是否存在。16.如申请专利范围第2项之方法,其中:该纯杂讯之候选载体获选定,杂讯减少作用系基于该选定属正确者,而针对一组天线实施,在该组天线上所得之一信号图型会接受分析,以及倘若该所得信号图型指出为一不正确的选定,则该任意选定即被拒绝,并进行一新的任意选定。17.如申请专利范围第16项之方法,更包含使用指出一尖笔位在该选定候选载体处或接近该选定候选载体之一图型,作为表示一不正确选定之一图型。18.如申请专利范围第1项之方法,更包含使用一复比例来补偿个别天线间于该补偿动作期间之相位与幅度差中的至少一种。19.如申请专利范围第1项之方法,更包含取样一阵列之一组天线,选定最不受该尖笔影响之至少一天线,以及根据该选定天线之输出来降低至少某些其余天线之个别输出。20.如申请专利范围第3项之方法,更包含使用多个任意选定之频率来计算该杂讯降低程度。21.如申请专利范围第20项之方法,更包含使用该等多个任意选定频率的一平均输出来计算该杂讯降低程度。22.如申请专利范围第1项之方法,其中该等检测元件是该数位化器之一平面阵列的多个传导检测器,用于将一可移动物件之信号数位化以指出该物件之位置。23.如申请专利范围第22项之方法,其中该杂讯至少部分是有一手指存在的结果。24.如申请专利范围第1项之方法,其中该数位化器包含用于承载该等检测元件之一检测表面,再者该检测表面对触压相当灵敏。25.一种降低数位化器中杂讯之装置,该数位化器包含用于检测处于数个预定频率其中之一预定频率的一电磁信号之多个检测元件;该装置包含:一取样器,用于实质上同时取样至少两上述检测元件以取得其输出,以及一杂讯降低单元,用以将该等两检测元件其中之一的输出,根据该等两检测元件中的另一元件之输出予以降低。26.如申请专利范围第25项之装置,其中该等检测元件其中之一获选定为一尖笔信号之一候选载体,而该等检测元件中之另一元件则获选定为纯杂讯之一候选载体。27.如申请专利范围第26项之装置,更包含一频率检测器,用于检测处在该预定频率与另一任意频率下的每一该等检测元件之输出。28.如申请专利范围第27项之装置,更包含:一比率寻检器,用于判定在该纯杂讯之候选载体上处于该预定频率与该任意频率下之输出间的一个比率,而其中该杂讯降低单元可与该比率寻检器配合操作来:从该比率与在该尖笔信号之候选载体处的任意信号,判定处于该预定频率之杂讯总量,以及将一尖笔信号之该候选载体上处于该预定频率之输出,降低该所判定杂讯总量。29.如申请专利范围第27项之装置,其中该等检测元件是透明导体。30.如申请专利范围第28项之装置,其中该任意频率系选定为在具有一相当高杂讯之一预设检测范围中的一个频率。31.如申请专利范围第28项之装置,其中该任意频率系选定为已用于手指检测之一频率。32.如申请专利范围第28项之装置,更包含用于刻意产生处在该任意频率下的杂讯之一杂讯产生器。33.如申请专利范围第28项之装置,其中该等预定频率于使用期间易于改变,该装置于是更组配来将该任意频率从相当接近一第一预定频率之一频率,改变成相当接近一第二预定频率之一第二频率。34.如申请专利范围第26项之装置,其中该纯杂讯之候选载体系从展示超过一临界杂讯总量的一组检测元件群组中,来选定为该群组中与一尖笔先前已知位置距离最远的元件。35.如申请专利范围第26项之装置,其中只要在与一尖笔先前已知位置相距一所决定距离之外,该纯杂讯之候选载体是选定为展示一最强杂讯信号之一元件。36.如申请专利范围第26项之装置,其中:该纯杂讯之候选载体获选定,杂讯减少作用系基于该选定属正确者,而针对一组元件群组实施,在该元件群组上所得之一信号图型会接受分析,以及倘若该所得信号图型指出为一正确选定,则允许该任意选定,否则即作一次新的任意选定。37.如申请专利范围第36项之装置,更包含使用指出一尖笔位于多个非选定元件其中之一处的一第一图型、以及指出无尖笔存在之一第二图型,作为表示一正确选定之图型。38.如申请专利范围第36项之装置,其中该分析包含判定有一输出超过一预定临界値之元件数量。39.如申请专利范围第26项之装置,其中:该纯杂讯之候选载体获选定,杂讯减少作用系基于该选定属正确者,而针对一组元件群组实施,在该元件群组上所得之一信号图型会接受分析,以及倘若该所得信号图型指出为一不正确的选定,则该任意选定会被拒绝,并且进行一新的任意选定。40.如申请专利范围第25项之装置,更包含一相位补偿器与一幅度补偿器中的至少一个,用于使用一复比例来补偿个别元件间于该补偿期间之相位与幅度差中的至少一种。41.如申请专利范围第25项之装置,其中该等元件包含一阵列,该装置系组配来取样该阵列之至少某些元件,该杂讯降低单元则组配来选择至少一元件,并根据该等元件中之另一元件的输出,来降低至少某些其余元件之个别输出。42.如申请专利范围第27项之装置,其中该杂讯降低单元系组配来使用多个任意选定之频率来计算该杂讯降低程度。43.如申请专利范围第42项之装置,其中该杂讯降低单元系组配来使用该等多个任意选定频率的一平均杂讯准位来计算该杂讯降低程度。44.如申请专利范围第25项之装置,其中该等元件是该数位化器之一平面阵列的多个传导检测器,用于将一可移动物件之信号数位化以指出该物件之位置。45.如申请专利范围第44项之装置,其中该可移动物件是一尖笔。46.如申请专利范围第45项之装置,其中该尖笔是一电磁尖笔。47.如申请专利范围第46项之装置,其中该尖笔包含一主动振荡器与一能量拾取电路。48.如申请专利范围第46项之装置,其中该尖笔包含一共振电路。49.如申请专利范围第25项之装置,其中该等检测元件系设置成一格栅阵列。50.如申请专利范围第25项之装置,其中该等检测元件是回路元件。51.如申请专利范围第44项之装置,其中该杂讯至少部分是有一手指存在的结果。图式简单说明:第1图是一显示于一数位化器表面上,一手指之原理等效电路的简化图;第2图是当手指在一位置而尖笔在另一位置时,一显示一数位化器电路之感测器阵列的简化图;第3图是一显示第2图之感测器阵列进行误差检测时的简化图;第4图是一绘示第2图之感测器阵列于一替代方案中,进行误差检测时的简化图;第5图是一绘示适合与本发明之较佳实施例使用的数位化器之简化图;第6图是一绘示根据本发明之一第一较佳实施例的程序之简化流程图;第7图是一更详细绘示根据本发明之一进一步较佳实施例,第6图所示之程序的简化流程图;第8图是一绘示根据本发明之一较佳实施例,选定一任意频率之方法的简化图;第9图是一绘示根据本发明之一较佳实施例,选定一纯杂讯之候选载体的方法之简化图;第10图是一绘示根据本发明之另一较佳实施例,选定一纯杂讯之候选载体的第二方法之简化流程图;第11图是一绘示根据本发明之一理想化实施例,一数位化器之操作的简化图;第12图是一绘示于一次理想化实施例中,第11图之数位化器操作的简化图;第13图是一绘示根据本发明之一较佳实施例,一数位化器之操作的简化图,其中第10图之方法用来识别纯杂讯之一候选载体;第14图是一绘示于一替代结果中,第10图之操作的简化图;第15图是一显示促成由该数位化器检测之杂讯的等效构件之简化图;第16图是一显示对于两杂讯源,第15图所示之情况如何改变的简化图;以及第17图与第18图是两绘示根据本发明之较佳实施例,于天线取样信号之图形。 |
