| 主权项 |
1.一种数位成像系统之自动调焦方法,其步骤包括 有: 提供一具有感光耦合元件(CCD)或互补性氧化金属 半导体(CMOS)之数位成像系统; 设置调焦测试图于该数位成像系统之预定焦距位 置上; 透过该感光耦合元件或互补性氧化金属半导体,将 该调焦测试图之成像,利用软体扫描识别,以预览 方式读入该数位成像系统之记忆体; 转换该成像之解析线条成为可分辨之线条数; 根据该线条数之多寡,以判定该光学成像系统是否 达到预定之解析要求;以及 透过驱动装置,使该光学系统之光学成像停留在该 预定解析要求之位置,从而达到调整预定焦距位置 之要求。 2.如申请专利范围第1项所述之数位成像系统之自 动调焦方法,其中该调焦测试图系为一黑白相间之 几何图形。 3.如申请专利范围第2项所述之数位成像系统之自 动调焦方法,其中该黑白相间之几何图形系可为至 少一组水平和垂直方向组合之黑白平行线条、水 平或垂直方向之放射状线条、或圆形放射图形。 4.如申请专利范围第1项所述之数位成像系统之自 动调焦方法,其中该转换之步骤中,进一步包括: 提供数学模型:V=V(n)/V(n+1);其中V表示扫描过程中, 两个相邻峰値亮度之比値;V(n)表示扫描过程中的 最后一个峰値亮度;V(n+1)表示扫描过程中,新扫描 到之峰値亮度; 判断V与V_Level的关系;若V>=V_Level,则WhiteBlackCnt値加1 ;若V<V_Level,则WhiteBlackCnt値维持不变,继续扫描下一 个峰値;其中V_Level表示该调焦测试图所预定黑白 变化之最小比値限度;whiteBlackCnt表示可分辨线条 数;以及 完成一个扫描周期后,即可得到WhiteBlackCnt値。 5.如申请专利范围第4项所述之数位成像系统之自 动调焦方法,其中该判定之步骤中,进一步包括判 定WhiteBlackCnt値的大小即可以确认该光学系统位置 是否已经达到目标清晰位置。 6.如申请专利范围第1项所述之数位成像系统之自 动调焦方法,其中该驱动装置系为一步进马达。 7.如申请专利范围第1项所述之数位成像系统之自 动调焦方法,其中该判定光学成像系统是否达到预 定之解析要求之步骤中,若为否,则驱动该驱动装 置,继续该调焦测试图的下一个位置之判断。 8.如申请专利范围第7项所述之数位成像系统之自 动调焦方法,其中该继续调焦测试图的下一个位置 之判断之步骤后,进一步包括,若判定该光学成像 系统无法满足预定之解析要求,即判为不良品。 9.一种数位成像系统之预览自动解析判读方法,其 步骤包括有: 提供一具有感光耦合元件(CCD)或互补性氧化金属 半导体(CMOS)之数位成像系统; 设置调焦测试图于该数位成像系统之预定焦距位 置上; 透过该感光耦合元件或互补性氧化金属半导体,将 该调焦测试图之成像,利用软体扫描识别,以预览 方式读入该数位成像系统之记忆体; 转换该成像之解析线条成为可分辨之线条数;以及 根据该线条数之多寡,以判定该光学成像系统是否 达到预定之解析要求。 图式简单说明: 第一图系习知数位成像系统之调焦方法之流程图; 第二图系习知数位成像系统之另一种调焦方法之 流程图; 第三图系习知数位成像系统之解析判读方法之流 程图; 第四图系本发明数位成像系统之自动调焦方法之 流程图; 第五图系本发明可分辨线条数量与解析能力之关 系图; 第六图系本发明光成像系统之物理位置和解析能 力(可判定线条数)之对应关系图; 第七图系本发明时域转频域之示意图; 第八图系本发明单一解析水平线条图形解析调焦 方法之扫描清晰之示意图; 第九图系本发明单一解析水平线条图形解析调焦 方法之扫描模糊之示意图; 第十图系本发明多种解析水平/垂直线条图形的解 析调焦方法之示意图; 第十一图系本发明放射状线条图形的解析调焦方 法之示意图; 第十二图系本发明圆形放射图形的解析调焦方法 之示意图; 第十三图系本发明数位成像系统之预览自动解析 判读方法之流程图。 |
