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经营范围
发明名称
METHOD OF THIN FILM CHARACTERIZATION
摘要
申请公布号
IL145699(A)
申请公布日期
2006.12.10
申请号
IL20010145699
申请日期
2001.09.30
申请人
NOVA MEASURING INSTRUMENTS LTD.
发明人
分类号
G01B11/06;G01N21/21;G01N21/35;G01N21/84;G01N21/95
主分类号
G01B11/06
代理机构
代理人
主权项
地址
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