发明名称 Verfahren und Vorrichtung zur Messung einer dielektrischen Antwort eines elektrischen Isoliersystems
摘要 Verfahren und Vorrichtung zur Messung einer dielektrischen Antwort eines elektrischen Isoliersystems, wobei mit einem Frequenzbereichverfahren (2) ein erstes Messergebnis (8) und mit einem Zeitbereichverfahren (3) ein zweites Messergebnis (9) bestimmt wird, woraufhin das erste Messergebnis (8) und das zweite Messergebnis (9) zu einem Gesamtmessergebnis (10) als dielektrische Antwort kombiniert werden. Als Messverfahren für den Frequenzbereich und den Zeitbereich können Standardmessverfahren dienen, beispielsweise das FDS- und PDC-Verfahren.
申请公布号 DE102005025449(A1) 申请公布日期 2006.12.07
申请号 DE200510025449 申请日期 2005.06.02
申请人 OMICRON ELECTRONICS GMBH 发明人 BORSI, HOSSEIN;GOCKENBACH, ERNST;KRUEGER, MICHAEL
分类号 G01R31/12 主分类号 G01R31/12
代理机构 代理人
主权项
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