摘要 |
Eine Struktur und ein Verfahren, die wirksam sind, um einen ESD-Schutz für eine geschützte Schaltungsanordnung einer automatischen Testausrüstung (ATE) zu liefern. In einem Deaktivierungsmodus sind das erste Spannungspotential und das zweite Spannungspotential im Wesentlichen äquivalent zu dem Referenzpotential, was dazu führt, dass eine Klemmschaltung der geschützten Schaltung eine nominale Klemmspannung liefert, so dass ein ESD-Ereignis, das eine Spannung zwischen dem ersten Spannungspotential und dem zweiten Spannungspotential aufweist, über eine erste und eine zweite ESD-Schiene mit dem Referenzpotential nebengeschlossen wird, wobei das ESD-Ereignis an einem DUT-Knoten empfangen wird, der mit der einen oder den mehreren Signalschienen der geschützten Schaltungsanordnung gekoppelt ist.
|