发明名称 System zum Erfassen einer absoluten Position in zwei Dimensionen unter Verwendung eines Zielmusters
摘要 Ein System zum Erfassen einer absoluten Position in zwei Dimensionen umfasst ein Ziel, das ein zweidimensionales Zielmuster aufweist. Ein Sensor erfasst ein Bild eines ersten Teilsatzes des Zielmusters. Eine Steuerung erzeugt einen ersten Bildvektor, der Summierungen von Zeilen von Pixelwerten von dem Bild darstellt, und einen zweiten Bildvektor, der Summierungen von Spalten von Pixelwerten von dem Bild darstellt. Die Steuerung ist konfiguriert, um eine absolute zweidimensionale Position des ersten Teilsatzes in Bezug auf einen Ursprung des Zielmusters, basierend auf dem ersten und dem zweiten Bildvektor und einer Mehrzahl von Zielvektoren, die das Zielmuster darstellen, zu bestimmen.
申请公布号 DE102005053733(A1) 申请公布日期 2006.12.07
申请号 DE200510053733 申请日期 2005.11.10
申请人 AGILENT TECHNOLOGIES INC. (N.D.GES.D.STAATES DELAWARE) 发明人 CHU, DAVID C.;WHITNEY, EVAN R.
分类号 G06K11/06;G06F3/033;G06K7/10 主分类号 G06K11/06
代理机构 代理人
主权项
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