发明名称 |
Verfahren zur Analyse einer Festkörperprobe |
摘要 |
Die vorliegende Erfindung betrifft ein Verfahren zur Analyse einer Festkörperprobe. Derartige Verfahren werden insbesondere zur Analyse der Materialzusammensetzung und Verteilung bzw. auf einer Festkörperoberfläche eingesetzt. DOLLAR A Bei dem erfindungsgemäßen Verfahren wird die zu analysierende Oberfläche mit Cäsium zumindest teilweise und/oder bereichsweise bedeckt und die Oberfläche mit einem Analysestrahl, der überwiegend oder ausschließlich polyatomare Ionen mit mindestens 3 Atomen je Ione enthält, bestrahlt. Die erzeugten Sekundärionen werden auf Cäsium-Verbindungen analysiert.
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申请公布号 |
DE102005027937(B3) |
申请公布日期 |
2006.12.07 |
申请号 |
DE200510027937 |
申请日期 |
2005.06.16 |
申请人 |
ION-TOF GMBH |
发明人 |
NIEHUIS, EWALD;KERSTING, REINHARD;MOELLERS, RUDOLF;GREHL, THOMAS |
分类号 |
G01N27/62 |
主分类号 |
G01N27/62 |
代理机构 |
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代理人 |
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主权项 |
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地址 |
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